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1. (WO2004097893) METHOD OF RESTORING ENCAPSULATED INTEGRATED CIRCUIT DEVICES
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2004/097893 国際出願番号: PCT/US2002/040105
国際公開日: 11.11.2004 国際出願日: 25.03.2003
予備審査請求日: 14.07.2003
IPC:
G01R 31/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
出願人:
VISSER, Timothy, Calvin [US/US]; US (UsOnly)
UHL, Gary, Michael [US/US]; US (UsOnly)
SMITHS AEROSPACE, INC. [US/US]; Grand Rapids Division 3290 Patterson Avenue, S.E. Grand Rapids, MI 49512-1991, US (AllExceptUS)
発明者:
VISSER, Timothy, Calvin; US
UHL, Gary, Michael; US
代理人:
VISSERMAN, Peter; Varnum, Riddering, Schmidt & Howlett LLP Bridgewater Place P.O. Box 352 Grand Rapids, MI 49501-0352, US
優先権情報:
発明の名称: (EN) METHOD OF RESTORING ENCAPSULATED INTEGRATED CIRCUIT DEVICES
(FR) PROCEDE DE RESTAURATION DE DISPOSITIFS A CIRCUITS INTEGRES ENCAPSULES
要約:
(EN) A method for restoring integrated circuit devices in an encapsulated array of integrated circuit devices includes the steps of testing the array and applying a voltage signal to pins appearing to be disconnected from an element internal to the array.
(FR) L'invention concerne un procédé de restauration de dispositifs à circuits intégrés dans un réseau encapsulé de dispositifs à circuits intégrés consistant à tester le réseau et à appliquer un signal de tension sur les broches qui semblent déconnectées d'un élément interne au réseau.
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 英語 (EN)
国際出願言語: 英語 (EN)