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1. (WO2004058070) X線撮像装置および撮像方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2004/058070    国際出願番号:    PCT/JP2003/016670
国際公開日: 15.07.2004 国際出願日: 25.12.2003
IPC:
G01N 23/20 (2006.01), G21K 1/06 (2006.01)
出願人: MOMOSE, Atsushi [JP/JP]; (JP)
発明者: MOMOSE, Atsushi; (JP)
代理人: NARUSE, Shigeo; NARUSE, INABA & INAMI, Hanabishi Imas Hirakawacho Building, 4th Floor, 3-11, Hirakawacho 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 102-0093 (JP)
優先権情報:
2002-376018 26.12.2002 JP
発明の名称: (EN) X-RAY IMAGING SYSTEM AND IMAGING METHOD
(FR) SYSTEME D'IMAGERIE A RAYONS X ET PROCEDE D'IMAGERIE ASSOCIE
(JA) X線撮像装置および撮像方法
要約: front page image
(EN)A system capable of X-ray imaging through a convenient structure. At first, a specimen (10) is placed between an X-ray source (1) and a first diffraction grating (2) and then X-rays are applied from the X-ray source (1) toward the first diffraction grating (2). When the X-rays pass through the first diffraction grating (2), Talbot’s effect occurs in the first diffraction grating (2). Since the phase of the X-rays is shifted by the specimen (10), self image of the first diffraction grating (2) is deformed. Subsequently, the X-rays pass through a second diffraction grating (3). Since the deformed self image of the first diffraction grating (2) is superposed on the second diffraction grating (3), an image contrast, generally moiré fringes, can be created in the X-rays. The moiré fringes thus created can be detected by an X-ray image detector (4). Since the moiré fringes thus created have been modulated by the specimen (10), the specimen (10) and its internal structure can be detected by analyzing the detected moiré fringes.
(FR)L'invention concerne un système capable d'imagerie à rayons X au moyen d'une structure adéquate. En premier lieu, un spécimen (10) est placé entre une source de rayons X (1) et un premier écran de diffraction (2), puis des rayons X sont appliqués de la sources de rayons X (1) en direction du premier écran de diffraction (2). Lorsque les rayons X passent à travers le premier écran de diffraction (2), l'effet de Talbot se produit dans ce premier écran de diffraction (2). Etant donné que la phase des rayons X est décalée par le spécimen (10), la propre image de l'écran de diffraction (2) est déformée. Ensuite, les rayons X passent à travers un deuxième écran de diffraction (3). Etant donné que la propre image déformée du premier écran de diffraction (2) est superposée au deuxième écran de diffraction (3), un contraste d'image, généralement des franges de moiré, peut être créé dans les rayons X. Les franges de moiré ainsi créées peuvent être détectées par un détecteur d'image à rayons X (4). Etant donné que les franges de moiré ainsi créées ont été modulées par le spécimen (10), ce spécimen (10) et sa structure intérieure peuvent être détectés par analyse des franges de moiré détectées.
(JA) この発明は、簡便な構造でX線撮像が可能な装置を提供するものである。 この装置においては、まず、X線源1と第1の回折格子2との間に被検体10を配置する。ついで、X線源1から第1の回折格子2に向けてX線を照射する。照射されたX線は、第1の回折格子2を通過する。このとき、第1の回折格子2では、タルボ効果を生じる。ここで、被検体10によるX線の位相のずれがあるので、第1の回折格子2の自己像は、それに依存して変形している。続いて、X線は、第2の回折格子3を通過する。その結果、上記の変形した第1の回折格子2の自己像と第2の回折格子3との重ね合わせにより、X線に、一般的にはモアレ縞となる画像コントラストを生成することができる。生成したモアレ縞をX線画像検出器4により検出することができる。生成されたモアレ縞は、被検体10により変調を受けている。したがって、検出されたモアレ縞を解析することにより、被検体10およびその内部の構造を検出することができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)