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1. (WO2004055772) アクティブマトリクス型の表示装置およびその検査方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2004/055772    国際出願番号:    PCT/JP2003/014435
国際公開日: 01.07.2004 国際出願日: 13.11.2003
IPC:
G09F 9/00 (2006.01), G09F 9/30 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), G09G 3/30 (2006.01), H05B 33/12 (2006.01), H05B 33/14 (2006.01)
出願人: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 395 Page Mill Road, Palo Alto, CA 94306-0670 (US) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NE, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW only).
NORIMATSU, Hideyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: NORIMATSU, Hideyuki; (JP)
代理人: OKUYAMA, Shoichi; 8th Floor, Akasaka NOA Bldg., 2-12, Akasaka 3-chome, Minato-ku, , Tokyo 107-0052 (JP)
優先権情報:
2002-364492 16.12.2002 JP
2003-36275 14.02.2003 JP
2003-52628 28.02.2003 JP
発明の名称: (EN) ACTIVE MATRIX DISPLAY AND ITS TESTING METHOD
(FR) AFFICHEUR A MATRICE ACTIVE ET PROCEDE DE TEST DE CELUI-CI
(JA) アクティブマトリクス型の表示装置およびその検査方法
要約: front page image
(EN)Before an EL device is installed, its drive circuit can be tested. An active matrix display has at least a substrate, an electrode for a first display element constituting each pixel provided on the substrate, a first transistor (Q2) connected to the electrode and a current source line (Is(m)), a second transistor (Q1) connected to the gate of the first transistor (Q2) and a data holding signal line (Data(m)), a holding capacitor (C1) connected to the current source line (Is(m)) and the gate of the first transistor (Q2), and a third transistor (Qt) connected to the electrode and a gate signal line (Gate(n-1)) for a second display element adjacent to the first display element and adapted to cause the current flowing from the first transistor (Q2) to the electrode to flow into the gate signal line (Gate(n-1)) for the second display element. A testing method for testing such a display device is also disclosed.
(FR)Avant d'installer un dispositif électroluminescent, on peut tester son circuit d'attaque. Un afficheur à matrice active possède au moins un substrat, une électrode destinée à un premier élément d'afficheur constituant chaque pixel fourni sur le substrat, un premier transistor (Q2) connecté à l'électrode et à une ligne source de courant (Is(m)), un deuxième transistor (Q1) connecté à la grille du premier transistor (Q2) et à une ligne de signal de données (Données (m)), un condensateur de rétention (C1) connecté à la ligne source de courant (Is(m)) et à la grille du premier transistor (Q2) et, un troisième transistor (Qt) connecté à l'électrode et à la ligne de signal de grille (Grille (n-1)) destiné à un deuxième élément d'afficheur contigu au premier élément d'afficheur et conçu pour faire en sorte que le courant s'écoulant du premier transistor (Q2) à l'électrode s'écoule dans la ligne de signal de grille (Grille (n-1)) destinée au deuxième élément d'afficheur. Cette invention concerne aussi un procédé de test de ce dispositif afficheur.
(JA)本発明は、EL素子等の取付け前にその駆動回路を検査できるようにするものである。具体的には、本発明は、基板と、該基板上に設けられる各画素を構成する表示素子のための電極と、該電極と電流源配線Is(m)とにそれぞれ接続される第1のトランジスタQ2と、該第1のトランジスタQ2のゲートとデータ保持用信号配線Data(m)とにそれぞれ接続される第2のトランジスタQ1と、電流源配線Is(m)と第1のトランジスタQ2のゲートとにそれぞれ接続される保持容量C1と、前記電極と前記表示素子に隣接する別の表示素子用のゲート信号配線Gate(n−1)とに接続され、第1のトランジスタQ2から前記電極に流れる電流を、別の表示素子用のゲート信号配線Gate(n−1)へと導く第3のトランジスタQtとを少なくとも含むアクティブマトリクス型の表示装置とこの表示装置の検査方法とを提供する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)