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1. WO2004038434 - 電位固定装置、電位固定方法および容量測定装置

公開番号 WO/2004/038434
公開日 06.05.2004
国際出願番号 PCT/JP2002/010910
国際出願日 22.10.2002
IPC
G01D 5/24 2006.01
G物理学
01測定;試験
D特に特定の変量に適用されない測定;単一のほかのサブクラスに包含されない2つ以上の変量を測定する装置;料金計量装置;特に特定の変量に適用されない伝達または変換装置;他に分類されない測定または試験
5感知要素の出力を伝達するための機械的手段;感知素子の型式や特性が変換手段を束縛しない場合に,感知要素の出力を別の変量に変換する手段;特に特定の変量に適用されない変換器
12電気的または磁気的手段を使用するもの
14電流または電圧の大きさに作用するもの
24キャパシタンス変化によるもの
G01N 27/22 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
02インピーダンスの調査によるもの
22容量の調査によるもの
H04R 3/06 2006.01
H電気
04電気通信技術
Rスピーカ,マイクロホン,蓄音機ピックアップまたは類似の音響電気機械変換器;補聴器;パブリックアドレスシステム
3変換器のための回路
04周波数レスポンスの補正のためのもの
06静電型変換器の
H04R 19/04 2006.01
H電気
04電気通信技術
Rスピーカ,マイクロホン,蓄音機ピックアップまたは類似の音響電気機械変換器;補聴器;パブリックアドレスシステム
19静電型変換器
04マイクロホン
CPC
G01R 27/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
27Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; ; Measuring impedance or related variables
出願人
  • SUMITOMO METAL INDUSTRIES, LTD., [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • HOKUTO ELECTRONICS, INC. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • YAKABE, Masami [JP]/[JP] (UsOnly)
  • NAKANO, Koichi [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • YAKABE, Masami
  • NAKANO, Koichi
代理人
  • NII, Hiromori
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) POTENTIAL FIXING DEVICE, POTENTIAL FIXING METHOD, AND CAPACITANCE MEARUING INSTRUMENT
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE DE FIXATION DE POTENTIEL, ET INSTRUMENT DE MESURE DE CAPACITE
(JA) 電位固定装置、電位固定方法および容量測定装置
要約
(JA)
not available
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