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1. (WO2004008196) 偏光解析装置

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2004/008196    国際出願番号:    PCT/JP2003/008888
国際公開日: 22.01.2004 国際出願日: 14.07.2003
G02B 5/30 (2006.01), G02B 27/28 (2006.01)
出願人: AUTOCLONING TECHNOLOGY LTD. [JP/JP]; 3-5-12-1104, Shintera, Wakabayashi-ku, Sendai-shi, Miyagi 984-0051 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAWAKAMI, Shojiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SATO, Takashi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KAWASHIMA, Takayuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
ISHIKAWA, Wataru [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAWAKAMI, Shojiro; (JP).
SATO, Takashi; (JP).
KAWASHIMA, Takayuki; (JP).
ISHIKAWA, Wataru; (JP)
2002-237212 13.07.2002 JP
(JA) 偏光解析装置
要約: front page image
(EN)A thin polarizer array and a wavelength plate array that are composed of micro regions having different optical axis directions and wavelength characteristics and have a high extinction ratio and a low insertion loss, and a polarization analyzer using them are disclosed. An array of micro periodic grooves are formed on a substrate, with the directions changed from one region to another. An alternating multilayer film formed by alternating a layer of high refractive index material such as Si or Ta2O5 and a layer of low refractive index material such as SiO2 is formed by bias sputtering. By selecting a condition that each layer maintains its periodic projecting/recessed shape, an array of photonic crystal polarizer is formed. By mounting this array of photonic crystal polarizer in a photodetector array, a polarization analyzer that is small, has no movable part, is composed of a small number of components, and enables high-precision measurement is constituted.
(FR)La présente invention concerne, d'une part une matrice fine de polariseurs et une matrice plate de longueurs d'ondes qui se composent de micro-régions présentant des orientations d'axe optique ainsi que des caractéristiques de longueurs d'ondes différentes et dotées d'un rapport d'extinction élevé et d'une perte à l'insertion faible, et d'autre part un analyseur à polarisation les utilisant. Une matrice de rainures micro-périodiques est réalisée sur un substrat, les orientations changeant d'une région à l'autre. Un film multicouche à alternance obtenu par pulvérisation polarisée en faisant alterner une couche de matériau à indice de réfraction élevé tel que Si ou Ta2O5 avec une couche de matériau à faible indice de réfraction tel que SiO2. Le choix d'un état tel que chaque couche conserve sa forme à creux et reliefs périodiques permet de réaliser un polariseur photonique à cristaux. Le montage de cette matrice de polariseurs photoniques à cristaux dans une matrice de photodétecteurs permet de réaliser un analyseur de petites dimensions, sans pièce mobile, constitué d'un petit nombre de composants et permettant des mesures de haute précision.
指定国: CN, JP, US.
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)