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1. (US20100065740) Ion trap mass spectrometer

官庁 : アメリカ合衆国
出願番号: 12595393 出願日: 28.03.2008
公開番号: 20100065740 公開日: 18.03.2010
特許番号: 08022363 特許付与日: 20.09.2011
公報種別: B2
(国内移行後) 元 PCT 国際出願 出願番号:PCTJP2008000811 ; 公開番号: クリックしてデータを表示
IPC:
H01J 49/42
H01J 3/00
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
26
質量分光器または質量分離管
34
動的分光器
42
走行安定型分光器,例.単極,四重極,多重極;ファービトロン
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
3
電子管または放電ランプの2以上の基本的な型に共通な電子光学またはイオン光学装置,またはイオントラップの細部
出願人: Shimadzu Corporation
発明者: Iwamoto Shinichi
Kodera Kei
Sekiya Sadanori
代理人: Sughrue Mion, PLLC
優先権情報: 2007-104624 12.04.2007 JP
発明の名称: (EN) Ion trap mass spectrometer
要約: front page image
(EN)

While applying a square wave voltage to the ion electrode (21) so that ions already captured in the ion trap (20) do not disperse, the frequency of the square wave voltage is temporarily increased at the timing when the ions generated in response to the short time irradiation of a laser light reach the ion inlet (25). This decreases the Mathieu parameter qz, and the potential well becomes shallow, which makes it easy for ions to enter the ion trap (20). Although the ions that have been already captured become more likely to disperse, the frequency of the square wave voltage is decreased before they deviate from the stable orbit. Thus, the dispersion of the ions can also be avoided. Accordingly, while the number of captured ions is not decreased, new ions are further added, and thereby the amount of ions can be increased. By performing a mass separation and detection after that, the signal intensity in one mass analysis can be increased. Thereby, the number of repetition of the mass analysis for summing up the mass profiles can be decreased, and the signal intensity can be increased while decreasing the measuring time.


Also published as:
EP2136389JPWO2008129850JP4894918WO/2008/129850