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1. (US20170067939) Non-contact voltage measurement device

官庁 : アメリカ合衆国
出願番号: 15122545 出願日: 04.02.2015
公開番号: 20170067939 公開日: 09.03.2017
特許番号: 10145865 特許付与日: 04.12.2018
公報種別: B2
(国内移行後) 元 PCT 国際出願 出願番号:PCTJP2015053148 ; 公開番号: クリックしてデータを表示
IPC:
G01R 15/16
G01R 1/07
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
15
グループG01R17/00~G01R29/00,G01R33/00~G01R33/26またはG01R35/00に定めた形式の測定装置の細部
14
電圧または電流の絶縁計測に適合するもの,例.高電圧回路または大電流回路用
16
容量装置を使用するもの
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1
グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02
一般的な構造の細部
06
測定用導線;測定用探針
067
測定用探針
07
非接触構造探針
CPC:
G01R 1/07
G01R 15/16
G01R 15/165
出願人: OMRON CORPORATION
発明者: Hiroshi Imai
Keiki Matsuura
Hiroyuki Tokusaki
Mao Ogimoto
Goro Kawakami
Kohei Tomita
Atsuhiro Okamura
代理人: Metrolexis Law Group, PLLC
優先権情報: 2014-050654 13.03.2014 JP
発明の名称: (EN) Non-contact voltage measurement device
要約: front page image
(EN)

Provided is a non-contact voltage measuring device capable of measuring, with given accuracy, measurement target voltages applied to various conducting wires having respective different shapes. An inner electrode which is deformable depending on a shape of a wire “w” is electrically connected, via a connecting section, to an outer electrode fixed to an electric field shield.


Also published as:
EP3118632CN106062569IN201647030936WO/2015/137017