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1. JPWO2020245970 - 分析装置

官庁
日本
出願番号 2021524592
出願日 06.06.2019
公開番号 WO2020245970
公開日 10.12.2020
特許番号 7001200
特許付与日 28.12.2021
公報種別 B1
CPC
G01H 17/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
17Measuring mechanical vibrations or ultrasonic, sonic or infrasonic waves, not provided for in the preceding groups
G01M 99/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
99Subject matter not provided for in other groups of this subclass
G01H 1/003
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
1Measuring ; characteristics of; vibrations in solids by using direct conduction to the detector
003of rotating machines
G01H 1/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
HMEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
1Measuring ; characteristics of; vibrations in solids by using direct conduction to the detector
12of longitudinal or not specified vibrations
14Frequency
G01M 99/008
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
99Subject matter not provided for in other groups of this subclass
008by doing functionality tests
出願人 三菱電機ビルテクノサービス株式会社
三菱電機株式会社
発明者 中谷 彰宏
安部 雅哉
橋爪 哲朗
阿部 芳春
寺島 英明
代理人 特許業務法人高田・高橋国際特許事務所
発明の名称
(JA) 分析装置
要約
(JA)

分析装置(1)は、例えばセンサ(2)、分析部(4)、分析部(5)、分析部(6)、及び統合部(7)を備える。分析部(5)は、分析部(4)によって取得されたスペクトログラムを複数の周波数帯域に分割し、複数の周波数帯域のそれぞれについて帯域強度時系列を取得する。分析部(6)は、帯域強度時系列のそれぞれに対応する強度スペクトログラムを取得する。統合部(7)は、分析部(6)によって取得された複数の強度スペクトログラムを統合することにより、統合スペクトログラムを取得する。


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