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1. JP2020159971 - 製品検査方法及び製品検査装置

官庁
日本
出願番号 2019061998
出願日 27.03.2019
公開番号 2020159971
公開日 01.10.2020
公報種別 A
IPC
G01N 21/84
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
G01N 21/85
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
85動いている流体または動いている粒状固体の調査
G01N 21/88
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
CPC
G01N 21/9508
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
9508Capsules; Tablets
G01N 2021/8845
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
8806Specially adapted optical and illumination features
8845Multiple wavelengths of illumination or detection
G01N 2021/95615
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
956Inspecting patterns on the surface of objects
95607using a comparative method
95615with stored comparision signal
出願人 USHIO INC
ウシオ電機株式会社
TOWA YAKUHIN KK
東和薬品株式会社
発明者 YAMADA TAKESHI
山田 剛
OTA AYA
太田 彩
NAKAYAMA KOJI
中山 幸治
代理人 保立 浩一
発明の名称
(EN) PRODUCT INSPECTION METHOD AND PRODUCT INSPECTION DEVICE
(JA) 製品検査方法及び製品検査装置
要約
(EN)

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide new technology that performs acceptability determination at high speed with high reliability by light measurement.

SOLUTION: Super-continuum light having a continuous spectrum at least spreading from 1100 to 1300 nm is emitted from a pulse light source 1, and the emitted light is pulse-stretched by an elongation element 2 so that the relationship of wavelength with elapsed time in one pulse becomes 1 to 1 before being irradiated onto a product P. The light having passed through the product P is received by an optical receiver 3, and output data is input to determination means 7. An acceptability program 43 of the determination means 7 calculates an absorption spectrum from the output data, quantifies by chemometrix and compares the result with a reference value, and determines acceptability. A product P determined not to be acceptable is rejected by a rejection mechanism.

SELECTED DRAWING: Figure 1

COPYRIGHT: (C)2021,JPO&INPIT


(JA)

【課題】高速且つ高信頼性の良否判断を光測定によって行う新しい技術を提供する。
【解決手段】少なくとも1100〜1300nmに亘って連続したスペクトルを有するスーパーコンティニウム光がパルス光源1から出射され、1パルスにおける波長と経過時間との関係が1対1となるように伸長素子2によってパルス伸張されて製品Pに照射される。製品Pを透過した光が受光器3で受光され、出力データが判断手段7に入力される。判断手段7の良否判断プログラム43は、出力データから吸収スペクトルを算出し、ケモメトリクスにより定量して基準値と比較し、良否を判断する。不良品であると判断された製品Pは、除外機構によって除外される。
【選択図】図1