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1. JP2020085869 - 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム

官庁 日本
出願番号 2018225992
出願日 30.11.2018
公開番号 2020085869
公開日 04.06.2020
公報種別 A
IPC
G01B 11/30
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
30表面の粗さまたは不規則性測定用
出願人 キヤノン株式会社
発明者 野上 敦史
代理人 國分 孝悦
発明の名称
(JA) 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
要約
(JA)

【課題】コストを抑えつつ適切な検知結果を得るための仕組みを提供することを目的とする。
【解決手段】少なくとも1つの設定を調整可能な検知処理により、処理対象の画像から、検知対象を検知する検知手段と、検知手段による検知結果に基づいて、検知結果の修正に要する修正コストを推定する修正コスト推定手段と、検知処理の設定の調整に要する調整コストを推定する調整コスト推定手段と、修正コストと調整コストを比較可能に表示手段に表示するよう制御する表示制御手段とを有する。
【選択図】図3

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