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1. JP2020095016 - 光検出装置

官庁 日本
出願番号 2019175948
出願日 26.09.2019
公開番号 2020095016
公開日 25.03.2020
特許番号 6681509
特許付与日 25.03.2020
公報種別 B1
IPC
H01L 31/107
H電気
01基本的電気素子
L半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
08輻射線が装置内を流れる電流を制御するもの,例.光―抵抗器(フォト―レジスター)
10少なくとも1つの電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの,例.フォトトランジスタ
101赤外線,可視光線または紫外線の放射に感応する装置
102唯一の電位障壁または表面障壁に特徴のあるもの
107電位障壁がアバランシェモードで作用するもの,例.アバランシェフォトダイオード
G01J 1/42
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1測光,例.写真の露出計
42電気的な放射線検出器によるもの
G01J 1/44
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
1測光,例.写真の露出計
42電気的な放射線検出器によるもの
44電気回路
出願人 浜松ホトニクス株式会社
発明者 園部 弘典
代理人 長谷川 芳樹
黒木 義樹
柴山 健一
崎山 翔一
優先権情報 2018232892 12.12.2018 JP
2018232895 12.12.2018 JP
発明の名称
(JA) 光検出装置
要約
(JA)

【課題】局所的な温度変化に対する耐性が向上された光検出装置を提供する。
【解決手段】光検出装置1は、光検出部20を備える。光検出部20は、APD11と、複数の温度補償用ダイオード16a,16b,17a,17bと、APD11と複数の温度補償用ダイオード16a,16b,17a,17bとを電気的に並列に接続する端子22とを有する。複数の温度補償用ダイオード16a,16b,17a,17bは、APD11のゲインの温度補償を行う。光検出部20は、光検出領域71と、温度検出領域72,73とを有する。光検出領域71には、APD11が設けられる。温度検出領域72,73は、光検出領域71の周囲に位置する。温度検出領域72,73には、複数の温度補償用ダイオード16a,16b,17a,17bが設けられている。光検出領域71は、温度検出領域72と温度検出領域73とに挟まれている。
【選択図】図2

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