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1. JPWO2017163778 - マーカ

官庁 日本
出願番号 2018507165
出願日 28.02.2017
公開番号 WO2017163778
公開日 28.09.2017
公報種別 A1
IPC
G01B 11/00
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
G01B 11/26
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
26角度またはテーパ測定用;軸の心合せ試験用
G02B 3/00
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
3単レンズまたは複合レンズ
G02B 3/06
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
3単レンズまたは複合レンズ
02非球面をもつもの
06シリンドリカル面またはトーリック面をもつもの
G03B 35/00
G物理学
03写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ
B写真を撮影するためのまたは写真を投影もしくは直視するための装置または配置;光波以外の波を用いる類似技術を用いる装置または配置;そのための付属品
35立体写真
CPC
G02B 3/005
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
3Simple or compound lenses
0006Arrays
0037characterized by the distribution or form of lenses
005arranged along a single direction only, e.g. lenticular sheets
G01B 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G01B 11/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
26for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
G03B 35/00
GPHYSICS
03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
35Stereoscopic photography
G02B 3/06
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
3Simple or compound lenses
02with non-spherical faces
06with cylindrical or toric faces
G02B 27/18
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
18for optical projection, e.g. combination of mirror and condenser and objective
出願人 株式会社エンプラス
発明者 齊藤 共啓
代理人 特許業務法人鷲田国際特許事務所
優先権情報 2016058546 23.03.2016 JP
発明の名称
(JA) マーカ
要約
(JA)

本発明のマーカは、透光性を有する材料で形成されたマーカであって、少なくとも第1の方向に沿って配置された複数の凸面と、前記複数の凸面と表裏の位置に配置され、光学的に検出可能な像として前記複数の凸面に投影される複数の被検出部と、を有し、前記第1の方向に沿う前記マーカの高さ方向の断面における、前記複数の凸面のそれぞれの断面形状は、その頂点から離れるにつれて曲率半径が大きくなる曲線である。