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1. JP2014235123 - 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置

官庁
日本
出願番号 2013117947
出願日 04.06.2013
公開番号 2014235123
公開日 15.12.2014
特許番号 6182806
特許付与日 04.08.2017
公報種別 B2
IPC
G01N 21/892
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89動いている材料,例.紙・織物,の中の
892調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
G01B 11/30
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
30表面の粗さまたは不規則性測定用
CPC
G01N 21/8422
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
G01N 21/896
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
892characterised by the flaw, defect or object feature examined
896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws ; in conveyed flat sheet or rod
G01N 2021/8438
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
8438Mutilayers
G01N 2021/8848
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
8806Specially adapted optical and illumination features
8848Polarisation of light
B32B 27/08
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32LAYERED PRODUCTS
BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
27Layered products comprising ; a layer of; synthetic resin
06as the main or only constituent of a layer, ; which is; next to another layer of ; the same or of; a ; different material
08of synthetic resin
B32B 41/00
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32LAYERED PRODUCTS
BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
41Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
出願人 SUMITOMO CHEMICAL CO LTD
住友化学株式会社
発明者 IMURA KEITA
井村 圭太
代理人 棚井 澄雄
▲廣▼保 直純
荒 則彦
加藤 広之
五十嵐 光永
発明の名称
(EN) DEFECT INSPECTION SYSTEM AND MANUFACTURING DEVICE OF FILM
(JA) 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置
要約
(EN)

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a defect inspection system capable of suppressing a false defect due to the detection of a flaw.

SOLUTION: The defect inspection system of a belt-shaped film having a first film and a second film laminated on the first film in a peeling manner includes: a laminating roll for forming a film by laminating the first film and the second film; a conveyer line for conveying a film in the downstream side of the laminating roll; a defect inspection device provided on the conveyer line; and a recording device for recording defect information relating to a defect detected by the defect inspection device. The defect inspection device is arranged on the conveyer line of the upstream side than the roller initially contacting a surface which is opposite to the first film of the second film other than the laminating roll.

COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT


(JA)

【課題】キズの検出による虚報欠陥を抑制することが可能な欠陥検査システムを提供する。
【解決手段】第1フィルムと、第1フィルムに剥離可能に積層された第2フィルムと、を有する帯状のフィルムの欠陥検査システムであって、第1フィルムと第2フィルムとを貼合してフィルムを形成する貼合ロールと、貼合ロールの下流側においてフィルムが搬送される搬送ラインと、搬送ラインに設けられた欠陥検査装置と、欠陥検査装置よりも下流側の搬送ラインに設けられ、欠陥検査装置によって検出された欠陥に関する欠陥情報を前記フィルムに記録する記録装置と、を含み、欠陥検査装置は、貼合ロール以外で、第2フィルムの第1フィルムとは反対側の面に最初に接するロールよりも上流側の搬送ラインに配置されている。
【選択図】図1