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1. (JPWO2008129850) イオントラップ質量分析装置

官庁 : 日本
出願番号: JP2008000811 出願日: 28.03.2008
公開番号: WO2008129850 公開日: 30.10.2008
公報種別: A1
IPC:
H01J 49/06
H01J 49/42
H01J 49/10
G01N 27/62
G01N 27/64
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
02
細部
06
電子光学的またはイオン光学的装置
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
26
質量分光器または質量分離管
34
動的分光器
42
走行安定型分光器,例.単極,四重極,多重極;ファービトロン
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
02
細部
10
イオン源;イオン銃
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
64
ガスをイオン化するための波動または粒子線の利用,例.電離箱におけるもの
出願人: 株式会社島津製作所
発明者: 岩本 慎一
小寺 慶
関谷 禎規
代理人: 特許業務法人京都国際特許事務所
優先権情報: 2007104624 12.04.2007 JP
発明の名称: (JA) イオントラップ質量分析装置
要約: front page image
(JA)

既にイオントラップ(20)に捕捉されているイオンが発散しないようにリング電極(21)に矩形波電圧を印加しながら、短時間のレーザ光照射に応じて発生したイオンがイオン導入口(25)に達するタイミングで一時的に矩形波電圧の周波数を上昇させる。これによりマチウパラメータqzが低くなり、ポテンシャル井戸が浅くなってイオンがイオントラップ(20)内に入り易くなる。一方、既に捕捉されていたイオンは発散し易くなるが、安定軌道を外れる前に矩形波電圧の周波数が下がるので、イオンの散逸も回避できる。これにより、捕捉されているイオンを減らさず、さらに新規のイオンを追加導入することでイオン量を増加させることができ、その後に質量分離・検出を行うことで1回の質量分析における信号強度を増加させることができる。それにより、質量プロファイルを積算するための質量分析の繰り返し回数を減らし、測定時間の短縮化を図りつつ信号強度を増加させることができる。


また、:
EP2136389US20100065740JP4894918WO/2008/129850