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1. (JPWO2008123432) 測定により場を取得する装置および方法

官庁 : 日本
出願番号: JP2008056137 出願日: 28.03.2008
公開番号: WO2008123432 公開日: 16.10.2008
公報種別: A1
IPC:
G01Q 60/30
G01Q 60/50
G 物理学
01
測定;試験
Q
走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[2010.01]
60
特定の型のSPMまたはそのための装置;その基本的な構成部品
24
AFMまたはそのための装置,例.AFM用のプローブ
30
走査型ポテンシャル顕微鏡法
G 物理学
01
測定;試験
Q
走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[2010.01]
60
特定の型のSPMまたはそのための装置;その基本的な構成部品
50
MFMまたはそのための装置,例.MFM用のプローブ
出願人: 国立大学法人京都大学
発明者: 木村 建次郎
小林 圭
山田 啓文
松重 和美
堀内 喬
佐藤 宣夫
中井 章文
代理人: 松阪 正弘
優先権情報: 2007091856 30.03.2007 JP
発明の名称: (JA) 測定により場を取得する装置および方法
要約: front page image
(JA)

磁区を有する試料(9)の上方において、MFMを用いて測定面(91)での磁気力の分布が磁気力画像として取得され、測定面(91)から微小距離dだけ離れた測定面(92)にて測定を行って補助磁気力画像が取得され、これらの差分を微小距離dで除算して磁気力勾配画像が取得される。磁気力画像および補助磁気力画像はフーリエ変換されてラプラス方程式の一般解から導かれる3次元場取得式に代入され、磁気力を示す3次元場が高精度に取得される。3次元場の取得により、試料(9)の表面93における磁区の様子も高精度に得ることができる。3次元場取得式を利用する3次元場取得方法は、ラプラス方程式を満たす磁位、電位、温度、重力ポテンシャル等の様々な場に利用することができる。また、3次元場の取得は高次のn次元場の取得に拡張することができる。


また、:
KR1020090130369EP2141481US20100219819JP4878063WO/2008/123432