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1. (JP5212990) 分析装置

官庁 : 日本
出願番号: 2009509152 出願日: 26.03.2008
公開番号: 5212990 公開日: 08.03.2013
特許番号: 5212990 特許付与日: 08.03.2013
公報種別: B2
IPC:
G01N 27/416
G01N 27/28
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
26
電気化学的変量の調査によるもの;電解または電気泳動の利用によるもの
416
システム
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
26
電気化学的変量の調査によるもの;電解または電気泳動の利用によるもの
28
電解質セル要素
出願人: アークレイ株式会社
発明者: 西村 秀樹
土渕 康
代理人: 八島 耕司
優先権情報: 2007086095 28.03.2007 JP
発明の名称: (JA) 分析装置
要約:
また、:
KR1020100041701EP2141493JPWO2008126682US20100276286CN101772702WO/2008/126682