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1. EP3435025 - MARKER

官庁 欧州特許庁(EPO)
出願番号 17769823
出願日 28.02.2017
公開番号 3435025
公開日 30.01.2019
公報種別 A4
IPC
G01B 11/00
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
G01B 11/26
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
26角度またはテーパ測定用;軸の心合せ試験用
G02B 3/00
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
3単レンズまたは複合レンズ
G02B 3/04
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
3単レンズまたは複合レンズ
02非球面をもつもの
04真の球面ではない回転対称的連続面をもつもの
G02B 3/06
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
3単レンズまたは複合レンズ
02非球面をもつもの
06シリンドリカル面またはトーリック面をもつもの
G02B 27/18
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
27他の光学系;他の光学装置
18光学投影用,例.反射鏡,集光器,対物レンズの結合
CPC
G02B 3/005
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
3Simple or compound lenses
0006Arrays
0037characterized by the distribution or form of lenses
005arranged along a single direction only, e.g. lenticular sheets
G01B 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G01B 11/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
26for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
G03B 35/00
GPHYSICS
03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
35Stereoscopic photography
G02B 3/06
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
3Simple or compound lenses
02with non-spherical faces
06with cylindrical or toric faces
G02B 27/18
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
18for optical projection, e.g. combination of mirror and condenser and objective
出願人 ENPLAS CORP
発明者 SAITO TOMOHIRO
指定国 (国コード)
優先権情報 2016058546 23.03.2016 JP
発明の名称
(DE) MARKER
(EN) MARKER
(FR) MARQUEUR
要約
(EN)
A marker according to the present invention is formed of a translucent material, and comprises at least: a plurality of protruding surfaces arranged in a first direction; and a plurality of portions to be detected which are arranged at positions on the reverse side to the plurality of protruding surfaces and which are projected, as optically detectable images, onto the plurality of protruding surfaces. Each of the cross-sectional shapes of the plurality of protruding surfaces in a cross section in the height direction of the marker along the first direction is a curved line having a curvature radius which increases with increase in a distance from the vertex of the curved line.

(FR)
Selon la présente invention, un marqueur est formé d'un matériau translucide, et comprend au moins : une pluralité de surfaces saillantes agencées dans une première direction ; et une pluralité de parties à détecter qui sont agencées à des positions sur le côté opposé à la pluralité de surfaces saillantes et qui sont projetées, sous forme d'images optiquement détectables, sur la pluralité de surfaces saillantes. Chacune des formes de section transversale de la pluralité de surfaces saillantes dans une section transversale dans la direction de la hauteur du marqueur le long de la première direction est une ligne incurvée présentant un rayon de courbure qui augmente avec une augmentation d'une distance par rapport au sommet de la ligne incurvée.