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1. CN101772702 - Analyzer

官庁 中華人民共和国
出願番号 200880017552.6
出願日 26.03.2008
公開番号 101772702
公開日 07.07.2010
公報種別 A
IPC
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
26
電気化学的変量の調査によるもの;電解または電気泳動の利用によるもの
416
システム
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
26
電気化学的変量の調査によるもの;電解または電気泳動の利用によるもの
28
電解質セル要素
30
電極,例.試験電極;半電池
327
生化学的電極
G01N 27/416
G01N 27/327
CPC
G01N 33/4875
G01N 27/3273
Y10T 436/11
出願人 Arkray Inc.
爱科来株式会社
発明者 Nishimura Hideki
西村秀树
Dobuchi Yasushi
土渊康
代理人 li xianglan
中科专利商标代理有限责任公司 11021
優先権情報 2007-086095 28.03.2007 JP
発明の名称
(EN) Analyzer
(ZH) 分析装置
要約
(EN)
An analyzer is used by having an analyzing tool (2) mounted thereon. The analyzing tool has a plurality of terminal sections (25A-28A). The analyzer is provided with a plurality of plate-spring-like terminals (42, 43) to be brought into contact with the terminal sections (25A-28A); and a discarding mechanism for discarding the analyzing tool (2) when analysis is finished. Contact sections (46, 47) of the plate-spring-like terminals (42, 43) to be brought into contact with the terminal sections (25A-28A) are arranged nonparallel to a direction orthogonally intersecting with a discarding direction (D1) of the analyzer (2) in plane view. Preferably, the contact sections (46, 47) of the plate-spring-like terminals are arranged at positions symmetric or substantially symmetric to the center line (L1), which is of the analyzing tool (2) and extends along the discarding direction (D1).

(ZH)

本发明提供一种分析装置,其安装并使用具有多个端子部(25A~28A)的分析用具(2),并且包括用于接触多个端子部(25A~28A)的多个板簧状端子(42、43);用于在分析结束后将分析用具(2)废弃的废弃机构。多个板簧状端子(42、43)中的用于接触多个端子部(25A~28A)的接触部(46、47)被配置为:俯视下不与垂直于上述分析用具(2)的废弃方向(D1)的方向平行。优选多个板簧状端子中的接触部(46、47)配置为:相对于沿废弃方向(D1)延伸的分析用具(2)的中心线(L1),处于对称或近似对称的位置关系。