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1. (CN101262819) Direct measuring and correction of scatter for CT

官庁 : 中華人民共和国
出願番号: 200680033557.9 出願日: 01.09.2006
公開番号: 101262819 公開日: 10.09.2008
特許番号: 101262819 特許付与日: 08.06.2011
公報種別: B
PCT 関連事項: 出願番号:PCTIB2006053054 ; 公開番号:2007031898 クリックしてデータを表示
IPC:
A61B 6/00
A 生活必需品
61
医学または獣医学;衛生学
B
診断;手術;個人識別
6
放射線診断用機器,例.放射線治療と結合している装置
CPC:
A61B 6/032
A61B 6/027
A61B 6/4028
A61B 6/4291
A61B 6/5282
出願人: Koninkl Philips Electronics NV
皇家飞利浦电子股份有限公司
発明者: Proksa Roland
R·普罗克绍
代理人: wangyang
永新专利商标代理有限公司 72002
優先権情報: 05108406.9 13.09.2005 EP
発明の名称: (EN) Direct measuring and correction of scatter for CT
(ZH) CT散射的直接测量及校正
要約: front page image
(EN) Cone-beam CT scanners with large detector arrays suffer from increased scatter radiation. This radiation may cause severe image artefacts. An examination apparatus is provided which directly measures the scatter radiation and uses this measurement for a correction of the contaminated image data. The measurement is performed by utilizing a 1- dimensional anti-scatter-grid and an X-ray tube with an electronic focal spot movement. Image data is detected at a first position of a focal spot and scatter data is detected at a second position of the focal spot. The image data is corrected on the basis of the scatter data.
(ZH)

具有大探测器阵列的锥束CT扫描器受到散射辐射增加的影响。这种辐射可能导致严重的伪影。提供一种检查装置,其直接地测量散射辐射并利用这种测量结果校正污染的图像数据。利用一维抗散射格栅和具有电子焦点运动的X射线管执行所述测量。在焦点的第一位置探测图像数据且在焦点的第二位置探测散射数据。基于散射数据校正图像数据。


また、:
EP1926431JP2009507544US20080226020WO/2007/031898