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1. WO2023024744 - APPAREIL DE TEST ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE

Numéro de publication WO/2023/024744
Date de publication 02.03.2023
N° de la demande internationale PCT/CN2022/105534
Date du dépôt international 13.07.2022
CIB
G01R 31/28 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
CPC
G01R 31/2815
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
281Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
2815Functional tests, e.g. boundary scans, using the normal I/O contacts
Déposants
  • 集创北方(珠海)科技有限公司 CHIPONE TECHNOLOGY (ZHUHAI) CO, LTD [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 陈庆伦 CHEN, Qinglun
  • 杨智超 YANG, Zhichao
Mandataires
  • 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) LINDA LIU & PARTNERS
Données relatives à la priorité
202110967983.623.08.2021CN
Langue de publication Chinois (zh)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) TEST APPARATUS AND ELECTRONIC DEVICE
(FR) APPAREIL DE TEST ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(ZH) 测试装置及电子设备
Abrégé
(EN) A test apparatus and an electronic device. The test apparatus comprises a control module (10), a test module (20), and at least one display driver chip to be tested (30). The control module (10) is used to output at least one test control signal, so as to control the test module (20) to test a decoding function of the at least one display driver chip to be tested (30). The test module (20) is used, when the test control signal is valid, to acquire display data to be tested, a corresponding decompression parameter and a preset check code; to transmit the display data to be tested and the corresponding decompression parameter to the display driver chip to be tested (30), so as to obtain a target check code output by the display driver chip to be tested (30); and to compare the target check code with the preset check code to obtain a test result of the display driver chip to be tested (30). The test apparatus may test the decoding function of the display driver chip (30), and determine whether the decoding function of the display driver chip (30) is normal; testing costs are low, test time is short, and test efficiency is relatively high.
(FR) La présente invention concerne un appareil de test et un dispositif électronique. L'appareil de test comprend un module de commande (10), un module de test (20), et au moins une puce de pilote d'affichage à tester (30). Le module de commande (10) est utilisé pour produire au moins un signal de commande de test, de manière à commander le module de test (20) pour tester une fonction de décodage de l'au moins une puce de pilote d'affichage à tester (30). Le module de test (20) est utilisé, lorsque le signal de commande de test est valide, pour acquérir des données d'affichage à tester, un paramètre de décompression correspondant et un code de vérification prédéfini ; pour transmettre les données d'affichage à tester et le paramètre de décompression correspondant à la puce de pilote d'affichage à tester (30), de façon à obtenir un code de vérification cible produit par la puce de pilote d'affichage à tester (30) ; et pour comparer le code de vérification cible avec le code de vérification prédéfini pour obtenir un résultat de test de la puce de pilote d'affichage à tester (30). L'appareil de test peut tester la fonction de décodage de la puce de pilote d'affichage (30), et déterminer si la fonction de décodage de la puce de pilote d'affichage (30) est normale ; les coûts de test sont faibles, le temps de test est court, et l'efficacité de test est relativement élevée.
(ZH) 一种测试装置及电子设备,测试装置包括控制模块(10)、测试模块(20)及至少一个待测显示驱动芯片(30),控制模块(10)用于输出至少一个测试控制信号,以控制测试模块(20)对至少一个待测显示驱动芯片(30)的解码功能进行测试;测试模块(20)用于当测试控制信号有效的情况下,获取待测显示数据、对应的解压缩参数及预设校验码;发送待测显示数据及对应的解压缩参数到待测显示驱动芯片(30),得到待测显示驱动芯片(30)输出的目标校验码;将目标校验码与预设校验码进行比较,得到待测显示驱动芯片(30)的测试结果。测试装置可以对显示驱动芯片(30)的解码功能进行测试,判断显示驱动芯片(30)的解码功能是否正常,测试成本低,测试时间短,具有较高的测试效率。
Documents de brevet associés
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