(EN) An automated test equipment method, applicable to an automated test equipment system. The automated test equipment method comprises: receiving, by a first-in first-out memory, a register value of a device under test, receiving an input value of an automated test equipment by the first-in first-out memory, and receiving a selection signal of the automated test equipment by the first-in first-out memory, to write the register value or the input value into the device under test for testing. Therefore, the automated test equipment and the device under test only communicate once, such that the execution efficiency of a test program of read-modify-write is improved, and then the test time is reduced.
(FR) Procédé d'équipement de test automatisé, applicable à un système d'équipement de test automatisé. Le procédé d'équipement de test automatisé consiste : à recevoir, par une mémoire de type premier entré-premier sorti, une valeur de registre d'un dispositif soumis à un test, à recevoir une valeur d'entrée d'un équipement de test automatisé par la mémoire de type premier entré-premier sorti, et à recevoir un signal de sélection de l'équipement de test automatisé par la première mémoire de type premier entré-premier sorti, pour écrire la valeur de registre ou la valeur d'entrée dans le dispositif soumis à un test pour un test. Par conséquent, l'équipement de test automatisé et le dispositif soumis à un test ne communiquent qu'une fois, de telle sorte que l'efficacité d'exécution d'un programme de test de lecture-modification-écriture est améliorée, puis, de telle sorte que le temps de test est réduit.
(ZH) 一种自动测试设备方法，适用于一自动测试设备系统。所述自动测试设备方法包括：经过一先进先出存储器接收一待测装置的寄存器数值、经过所述先进先出存储器接收一自动测试设备的输入数值、以及经过所述先进先出存储器接收所述自动测试设备的选择信号以写入所述寄存器数值或是所述输入数值至所述待测装置以进行测试。借此，使自动测试设备与待测装置仅通信一次，使读取-修改-写入的测试程序执行效率更为提高，进而减少了测试时间。
