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1. WO2022209166 - DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE L'INFORMATION, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE L'INFORMATION, ET CIBLE D'ÉTALONNAGE

Numéro de publication WO/2022/209166
Date de publication 06.10.2022
N° de la demande internationale PCT/JP2022/001613
Date du dépôt international 18.01.2022
CIB
G01B 11/00 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
G06T 7/80 2017.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7Analyse d'image
80Analyse des images capturées pour déterminer les paramètres de caméra intrinsèques ou extrinsèques, c. à d. étalonnage de caméra
CPC
G01B 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G06T 7/80
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
80Analysis of captured images to determine intrinsic or extrinsic camera parameters, i.e. camera calibration
Déposants
  • ソニーグループ株式会社 SONY GROUP CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 鴇崎 友希 TOKIZAKI, Yuki
  • 神尾 和憲 KAMIO, Kazunori
Mandataires
  • 特許業務法人南青山国際特許事務所 MINAMI AOYAMA PATENT AND TRADEMARK ATTORNEYS
Données relatives à la priorité
2021-06025731.03.2021JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) INFORMATION PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING METHOD, AND CALIBRATING TARGET
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE L'INFORMATION, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE L'INFORMATION, ET CIBLE D'ÉTALONNAGE
(JA) 情報処理装置、情報処理方法、及び較正用ターゲット
Abrégé
(EN) The information processing device according to one aspect of the present art comprises a calibration processing unit. The calibration processing unit calculates a calibration parameter representing the arrangement relationship between a distance-measuring sensor that radiates measurement light, and another sensor that is different from the distance-measuring sensor, on the basis of data resulting when the distance-measuring sensor measures a calibration target, which has a plurality of recessed patterns that each have a recess and that are each configured such that the reflectivity with respect to the measurement light at a bottom-surface section of the recess and at an edge-surface section surrounding the recess is greater than a prescribed threshold value, and data resulting when the other sensor measures the calibrating target.
(FR) Un dispositif de traitement d’informations selon un mode de réalisation de la présente invention comprend une unité de traitement d'étalonnage. L'unité de traitement d'étalonnage calcule un paramètre d'étalonnage représentant la relation d'agencement entre un capteur de mesure de distance qui émet une lumière de mesure, et un autre capteur qui est différent du capteur de mesure de distance, sur la base des données résultant lorsque le capteur de mesure de distance mesure une cible d'étalonnage, qui présente une pluralité de motifs évidés qui ont chacun un évidement et qui sont chacun configurés de telle sorte que la réflectivité par rapport à la lumière de mesure à une section de surface de fond de l'évidement et à une section de surface de bord entourant l'évidement est supérieure à une valeur de seuil prescrite, et des données résultant lorsque l'autre capteur mesure la cible d'étalonnage.
(JA) 本技術の一形態に係る情報処理装置は、較正処理部を具備する。前記較正処理部は、測定光を照射する測距センサにより、各々が凹部を有し、前記凹部の底面部及び前記凹部を囲む縁面部の前記測定光に対する反射率が所定の閾値よりも高くなるように構成された複数の凹状パターンを有する較正用ターゲットを測定したデータと、前記測距センサとは異なる他のセンサにより、前記較正用ターゲットを測定したデータとに基づいて、前記測距センサと前記他のセンサとの配置関係を表す較正パラメータを算出する。
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