(EN) Examples described herein relate to a pattern of pins where the signals assigned to the pins are arranged in a manner to reduce cross-talk. In some examples, a socket substrate includes a first group of pins that includes a first group of data (DQ) pins separated by at least two Voltage Source Supply (VSS) pins from a second group of DQ pins and a third group of DQ pins separated by at least two VSS pins from a fourth group of DQ pins. In some examples, data strobe signal (DQS) pins are positioned in a column between the first and third groups of DQ pins and the second and fourth groups of DQ pins.
(FR) Des exemples de la présente invention concernent un motif de broches où les signaux attribués aux broches sont agencés de manière à réduire la diaphonie. Dans certains exemples, un substrat de prise comprend un premier groupe de broches qui comprend un premier groupe de broches de données (DQ) séparées par au moins deux broches d'alimentations de source de tension (VSS) d'un second groupe de broches DQ et d'un troisième groupe de broches DQ séparées par au moins deux broches VSS d'un quatrième groupe de broches DQ. Dans certains exemples, des broches de signal d'échantillonnage de données (DQS) sont positionnées dans une colonne entre les premier et troisième groupes de broches DQ et les second et quatrième groupes de broches DQ.
