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1. WO2021245414 - BLOC D'ÉCHANTILLON ET SUPPORT DE BLOC D'ÉCHANTILLON

Numéro de publication WO/2021/245414
Date de publication 09.12.2021
N° de la demande internationale PCT/GB2021/051364
Date du dépôt international 02.06.2021
CIB
G01N 1/36 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
28Préparation d'échantillons pour l'analyse
36Enrobage ou montage analogue d'échantillons
CPC
G01N 1/36
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
36Embedding or analogous mounting of samples
G01N 2001/364
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
36Embedding or analogous mounting of samples
364using resins, epoxy
G01N 2001/366
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
28Preparing specimens for investigation ; including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
36Embedding or analogous mounting of samples
366Moulds; Demoulding
G01N 23/2202
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
2202Preparing specimens therefor
H01J 37/20
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
37Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
02Details
20Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support
H01J 37/28
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
37Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
28with scanning beams
Déposants
  • ROCKTYPE LTD [GB]/[GB]
Inventeurs
  • OMMA, Henrik Nilsen
Mandataires
  • GREGORY, John David Charles
Données relatives à la priorité
2008360.603.06.2020GB
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SAMPLE BLOCK AND SAMPLE BLOCK HOLDER
(FR) BLOC D'ÉCHANTILLON ET SUPPORT DE BLOC D'ÉCHANTILLON
Abrégé
(EN) A sample block (1) and a sample block holder (51) for use in the analysis of material samples, such as rock drill cuttings (24), using a scanning electron microscope. The sample block (1) is provided with a profile that facilitates alignment within the sample block holder (51) that ensures that a sample block (1) that is inspected and then subsequently re-inspected remains in the same orientation for the first and second inspections. Areas of interest of the rock drill cuttings (24) identified in the first inspection can thus be reliably inspected during the second inspection because the possibility of the sample block (1) being submitted in a different orientation has been removed.
(FR) La présente invention porte sur un bloc d'échantillon (1) et sur un support de bloc d'échantillon (51) destinés à être utilisés dans l'analyse d'échantillons de matériau, tels que des déblais de forage de roche (24), à l'aide d'un microscope électronique à balayage. Le bloc échantillon (1) est pourvu d'un profil qui facilite l'alignement à l'intérieur du support de bloc d'échantillon (51) qui garantit qu'un bloc d'échantillon (1) qui est inspecté et, ensuite, à nouveau inspecté, reste dans la même orientation pour les première et seconde inspections. Des zones dignes d'intérêt des déblais de forage de roche (24) identifiés lors de la première inspection peuvent ainsi être inspectées de manière fiable pendant la seconde inspection étant donné que la possibilité que le bloc d'échantillon (1) soit soumis dans une orientation différente a été éliminée.
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