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1. WO2021059909 - SYSTÈME DE GÉNÉRATION DE DONNÉES, DISPOSITIF D'APPRENTISSAGE, DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE DONNÉES, PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION DE DONNÉES ET PROGRAMME DE GÉNÉRATION DE DONNÉES

Numéro de publication WO/2021/059909
Date de publication 01.04.2021
N° de la demande internationale PCT/JP2020/033311
Date du dépôt international 02.09.2020
CIB
G01N 21/88 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G06T 1/40 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
1Traitement de données d'image, d'application générale
20Architectures de processeurs; Configuration de processeurs p.ex. configuration en pipeline
40Réseaux neuronaux
G06N 20/00 2019.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
NSYSTÈMES DE CALCULATEURS BASÉS SUR DES MODÈLES DE CALCUL SPÉCIFIQUES
20Apprentissage automatique
CPC
G01N 21/88
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
G06N 20/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
20Machine learning
Déposants
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 岡本 大和 OKAMOTO, Yamato
  • 米谷 竜 YONETANI, Ryo
  • 中田 雅博 NAKATA, Masahiro
  • 宮田 佳昭 MIYATA, Yoshiaki
Mandataires
  • 立花 顕治 TACHIBANA, Kenji
  • 桝田 剛 MASUDA, Tsuyoshi
Données relatives à la priorité
2019-17800127.09.2019JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) DATA GENERATION SYSTEM, LEARNING DEVICE, DATA GENERATION DEVICE, DATA GENERATION METHOD, AND DATA GENERATION PROGRAM
(FR) SYSTÈME DE GÉNÉRATION DE DONNÉES, DISPOSITIF D'APPRENTISSAGE, DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE DONNÉES, PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION DE DONNÉES ET PROGRAMME DE GÉNÉRATION DE DONNÉES
(JA) データ生成システム、学習装置、データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム
Abrégé
(EN)
Provided is technology for reducing the cost of collecting various samples. A data generation system according to one aspect of this invention uses a first generation device, which has been trained, to generate a first pseudo sample including a first classification characteristic corresponding to an input value; uses a second generation device, which has been trained, to generate a second pseudo sample including a second classification characteristic corresponding to an input value; and generates a new sample including the first characteristic and the second characteristic by combining the generated first and second pseudo samples.
(FR)
Une technologie pour réduire le coût de collecte de divers échantillons est divulguée. Un système de génération de données selon un aspect de la présente invention utilise un premier dispositif de génération, qui a été entraîné, pour générer un premier pseudo-échantillon comprenant une première caractéristique de classification correspondant à une valeur d'entrée ; utilise un second dispositif de génération, qui a été entraîné, pour générer un second pseudo-échantillon comprenant une seconde caractéristique de classification correspondant à une valeur d'entrée ; et génère un nouvel échantillon comprenant la première caractéristique et la seconde caractéristique par combinaison des premier et second pseudo-échantillons générés.
(JA)
多様なサンプルを収集するのにかかるコストを低減するための技術を提供する。 本発明の一側面に係るデータ生成システムは、訓練済みの第1生成器を利用して、入力値に対応する種別の第1特徴を含む第1疑似サンプルを生成し、訓練済みの第2生成器を利用して、入力値に対応する種別の第2特徴を含む第2疑似サンプルを生成し、かつ生成された第1疑似サンプル及び第2疑似サンプルを合成することにより、第1特徴及び第2特徴を含む新たなサンプルを生成する。
Également publié en tant que
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