Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2021053033 - EMPILEMENT MAGNÉTORÉSISTIF SANS CHAMP RAYONNÉ, CAPTEUR ET SYSTÈME DE CARTOGRAPHIE MAGNÉTIQUE COMPRENANT UN TEL EMPILEMENT

Numéro de publication WO/2021/053033
Date de publication 25.03.2021
N° de la demande internationale PCT/EP2020/075896
Date du dépôt international 16.09.2020
CIB
G01R 33/09 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
02Mesure de la direction ou de l'intensité de champs magnétiques ou de flux magnétiques
06en utilisant des dispositifs galvano-magnétiques
09des dispositifs magnéto-résistifs
G01Q 60/38 2010.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
38Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
G01R 33/12 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
12Mesure de propriétés magnétiques des articles ou échantillons de solides ou de fluides
G01R 33/16 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
12Mesure de propriétés magnétiques des articles ou échantillons de solides ou de fluides
16Mesure de la susceptibilité
G01R 33/14 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
12Mesure de propriétés magnétiques des articles ou échantillons de solides ou de fluides
14Mesure ou tracé par points des courbes d'hystérésis
CPC
G01Q 60/54
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
50MFM [Magnetic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. MFM probes
54Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
G01R 33/093
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
06using galvano-magnetic devices, e.g. Hall effect devices; using magneto-resistive devices
09Magnetoresistive devices
093using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
G01R 33/098
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
06using galvano-magnetic devices, e.g. Hall effect devices; using magneto-resistive devices
09Magnetoresistive devices
098comprising tunnel junctions, e.g. tunnel magnetoresistance sensors
G01R 33/1215
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
1215Measuring magnetisation; Particular magnetometers therefor
G01R 33/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
14Measuring or plotting hysteresis curves
G01R 33/16
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
12Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
16Measuring susceptibility
Déposants
  • COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES [FR]/[FR]
Inventeurs
  • FERMON, Claude
  • SOLIGNAC, Aurélie
  • PANNETIER-LECOEUR, Myriam
Mandataires
  • LEBKIRI, Alexandre
Données relatives à la priorité
FR191031719.09.2019FR
Langue de publication Français (fr)
Langue de dépôt français (FR)
États désignés
Titre
(EN) MAGNETORESISTIVE STACK WITHOUT RADIATED FIELD, SENSOR AND MAGNETIC MAPPING SYSTEM COMPRISING SUCH A STACK
(FR) EMPILEMENT MAGNÉTORÉSISTIF SANS CHAMP RAYONNÉ, CAPTEUR ET SYSTÈME DE CARTOGRAPHIE MAGNÉTIQUE COMPRENANT UN TEL EMPILEMENT
Abrégé
(EN) One aspect of the invention relates to a magnetoresistive stack (1) comprising: - a reference layer (2) comprising: • a magnetic layer (21), • an antiferromagnetic layer (24) in exchange coupling with the magnetic layer (21), • a magnetic layer (22) substantially of the same magnetization as the magnetic layer (21), • a spacer layer (23) between the magnetic layers (21, 22) with a thickness for enabling an antiferromagnetic coupling between the magnetic layers (21, 22) of a first coupling intensity, - a free layer (3) having a coercivity of less than 10 microTesla, the free layer (3) comprising: • a magnetic layer (32), • an antiferromagnetic layer (34) in exchange coupling with the magnetic layer (32), • a magnetic layer (31) substantially of the same magnetization as the magnetic layer (32), • a spacer layer (33) between the magnetic layers (31, 32) with a thickness for enabling an antiferromagnetic coupling between the magnetic layers of a second coupling intensity lower than the first coupling intensity, - a third spacer layer (4) separating the reference layer (2) and the free layer (3).
(FR) Un aspect de l'invention concerne un empilement magnétorésistif (1) comprenant : - Une couche de référence (2) comprenant : • Une couche magnétique (21), • Une couche antiferromagnétique (24) en couplage d'échange avec la couche magnétique (21), • Une couche magnétique (22) sensiblement de même aimantation que la couche magnétique (21), • Une couche espaceur (23) entre les couches magnétiques (21, 22) d'épaisseur permettant un couplage antiferromagnétique entre les couches magnétiques (21, 22) d'une première intensité de couplage, - Une couche libre (3) de coercivité inférieure à 10 microTesla, la couche libre (3) comprenant : • Une couche magnétique (32), • Une couche antiferromagnétique (34) en couplage d'échange avec la couche magnétique (32), • Une couche magnétique (31) sensiblement de même aimantation que la couche magnétique (32), • Une couche espaceur (33) entre les couches magnétiques (31, 32) d'épaisseur permettant un couplage antiferromagnétique entre les couches magnétiques d'une deuxième intensité de couplage inférieure à la première intensité de couplage, - Une troisième couche espaceur (4) séparant la couche de référence (2) et la couche libre (3).
Documents de brevet associés
EP2020772061Cette demande ne peut pas être visualisée dans PATENTSCOPE car les données relatives à l'ouverture de la phase nationale n'ont pas encore été publiées ou sont émises par un pays qui ne partage pas de données avec l'OMPI ou il y a un problème de formatage ou d'indisponibilité de la demande.
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international