Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2021038977 - DISPOSITIF D'ANALYSE DE PARTICULES

Numéro de publication WO/2021/038977
Date de publication 04.03.2021
N° de la demande internationale PCT/JP2020/019273
Date du dépôt international 14.05.2020
CIB
G01N 15/12 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
10Recherche de particules individuelles
12Compteurs du type Coulter
G01N 27/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
CPC
G01N 15/12
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
15Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
10Investigating individual particles
12Coulter-counters
G01N 27/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
Déposants
  • NOK株式会社 NOK CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 室田 雄輝 MUROTA Yuki
  • 吉富 匠 YOSHITOMI Takumi
  • 藤澤 直広 FUJISAWA Naohiro
Mandataires
  • 小西 恵 KONISHI Kay
  • 永岡 重幸 NAGAOKA Shigeyuki
  • 矢代 仁 YASHIRO Hitoshi
Données relatives à la priorité
2019-15582428.08.2019JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) PARTICLE ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE PARTICULES
(JA) 粒子解析装置
Abrégé
(EN)
This particle analysis device includes: an upper liquid space in which a first liquid is stored; a lower liquid space in which a second liquid is stored; a connection hole that connects the upper liquid space and the lower liquid space; and first to fourth through holes. The first to fourth holes each have an opening section that opens at the top surface of the particle analysis device. The first hole and the second hole extend to the upper liquid space. The third hole and the fourth hole extend to the lower liquid space. A first electrode provides an electrical potential to the first liquid in the upper liquid space, via the first hole; and a second electrode provides an electrical potential to the second liquid in the lower liquid space, via the third hole. The opening section of at least one of the first hole and the second hole has an area larger than any other part of the same hole. The opening section of at least one of the third hole and the fourth hole has an area larger than any other part of the same hole.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif d'analyse de particules qui comprend : un espace de liquide supérieur dans lequel un premier liquide est stocké; un espace de liquide inférieur dans lequel un second liquide est stocké; un trou de raccordement qui relie l'espace de liquide supérieur et l'espace de liquide inférieur; et des premier à quatrième trous traversants. Les premier à quatrième trous ont chacun une section d'ouverture qui s'ouvre au niveau de la surface supérieure du dispositif d'analyse de particules. Le premier trou et le deuxième trou s'étendent jusqu'à l'espace liquide supérieur. Le troisième trou et le quatrième trou s'étendent jusqu'à l'espace liquide inférieur. Une première électrode fournit un potentiel électrique au premier liquide dans l'espace liquide supérieur, par l'intermédiaire du premier trou; et une seconde électrode fournit un potentiel électrique au second liquide dans l'espace de liquide inférieur, par l'intermédiaire du troisième trou. La section d'ouverture d'au moins l'un du premier trou et du deuxième trou a une surface plus grande que toute autre partie du même trou. La section d'ouverture d'au moins l'un du troisième trou et du quatrième trou a une surface plus grande que toute autre partie du même trou.
(JA)
粒子解析装置は、第1の液体が貯留される上方の液体空間、第2の液体が貯留される下方の液体空間、上方の液体空間と下方の液体空間とを接続する接続孔、および第1~第4の孔を有する。第1~第4の孔の各々は、粒子解析装置の上面で開口する開口部を有する。第1の孔と第2の孔は、上方の液体空間に延びる。第3の孔と第4の孔は、下方の液体空間に延びる。第1の電極が第1の孔を通じて上方の液体空間内の第1の液体に電位を与え、第2の電極が第3の孔を通じて下方の液体空間内の第2の液体に電位を与える。第1の孔および第2の孔の少なくとも一方の開口部は、当該孔の他の部分より大きい面積を有する。第3の孔および第4の孔の少なくとも一方の開口部は、当該孔の他の部分より大きい面積を有する。
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international