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1. WO2021027472 - MACHINE DE TEST DE VIEILLISSEMENT ACCÉLÉRÉ À HAUTE PRESSION DESTINÉE AU TEST D'UNE PUCE FINIE ET SON PROCÉDÉ D'UTILISATION

Numéro de publication WO/2021/027472
Date de publication 18.02.2021
N° de la demande internationale PCT/CN2020/102030
Date du dépôt international 15.07.2020
CIB
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G01R 1/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
04Boîtiers; Organes de support; Agencements des bornes
CPC
G01R 31/2855
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
Déposants
  • 安徽龙芯微科技有限公司 ANHUI LONGXINWEI TECHNOLOGY CO. LTD [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 黄晓波 HUANG, Xiaobo
Mandataires
  • 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) BEIJING HESHINIP INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE
Données relatives à la priorité
201910738753.512.08.2019CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) HIGH PRESSURE ACCELERATED AGING TEST MACHINE FOR FINISHED CHIP TEST AND USE METHOD THEREFOR
(FR) MACHINE DE TEST DE VIEILLISSEMENT ACCÉLÉRÉ À HAUTE PRESSION DESTINÉE AU TEST D'UNE PUCE FINIE ET SON PROCÉDÉ D'UTILISATION
(ZH) 一种成品芯片测试用高压加速老化试验机及其使用方法
Abrégé
(EN)
A high pressure accelerated aging test machine for finished chip test and a use method therefor. The test machine comprises an upper machine body (1), a pressure door (2) being movably mounted on a front surface of the upper machine body (1), two sealing rings (5) arranged in a vertical direction being fixedly mounted on a rear surface of the pressure door (2), a pressure valve (4) being fixedly mounted at a middle part of an upper surface of the upper machine body (1), a support frame (14) being fixedly mounted on an inner wall of a bottom end of the upper machine body (1), an upper end of the support frame (14) being fixedly mounted with a cylindrical pressure box (8), circular holes (12) being provided at the position on an arc side face of the pressure box (8) and being in one-to-one correspondence with the sealing rings (5), a clamping mechanism (13) being fixedly mounted at the position where an arc inner wall of the pressure box (8) is aligned with the circular holes (12). By means of the provided clamping mechanism (13), it is convenient for an operator to clamp a chip to be tested, and the clamping width of the clamping mechanism (13) can be adjusted according to the size of the chip, and by means of the provided pressure valve (4), the discharge of air pressure can be precisely controlled, improving the safety during operation.
(FR)
L'invention concerne une machine de test de vieillissement accéléré à haute pression destinée au test d'une puce finie et son procédé d'utilisation. La machine de test comprend : un corps de machine supérieur (1) ; une porte pressurisée (2) montée de manière mobile sur une surface avant du corps de machine supérieur (1) ; deux bagues d'étanchéité (5) disposées dans une direction verticale et montées de manière fixe sur une surface arrière de la porte pressurisée (2) ; une soupape de pression (4) montée de manière fixe au niveau d'une partie centrale d'une surface supérieure du corps de machine supérieur (1) ; une armature de support (14) montée de manière fixe sur une paroi interne d'une extrémité inférieure du corps de machine supérieur (1), une extrémité supérieure de l'armature de support (14) étant pourvue de manière fixe d'une boîte de pression cylindrique (8) ; des trous circulaires (12) situés au niveau de la position sur une face latérale arquée de la boîte de pression (8) et en correspondance biunivoque avec les bagues d'étanchéité (5) ; et un mécanisme de maintien (13) monté de manière fixe au niveau de la position dans laquelle une paroi interne arquée de la boîte de pression (8) est alignée avec les trous circulaires (12). Grâce au mécanisme de maintien (13), un opérateur peut commodément maintenir une puce devant être testée. De plus, la largeur du maintien du mécanisme de maintien (13) peut être ajustée en fonction de la taille de la puce. En outre, la soupape de pression (4) permet de réguler précisément la décharge de pression d'air, ce qui accroît la sécurité en cours de fonctionnement.
(ZH)
一种成品芯片测试用高压加速老化试验机及其使用方法,该试验机包括上机体(1),上机体(1)的前表面活动安装有压力门(2),压力门(2)的后表面固定安装有两个竖直方向放置的密封圈(5),上机体(1)的上表面中部固定安装有压力阀(4),上机体(1)的底端内壁固定安装有支撑架(14),支撑架(14)的上端固定安装有柱体形状的压力箱(8),压力箱(8)的圆弧侧面与密封圈(5)一一对应的位置开设有圆孔(12),压力箱(8)的圆弧内壁与圆孔(12)相对齐的位置固定安装有夹持机构(13)。通过设置的夹持机构(13),方便操作人员夹持待测试的芯片,可根据芯片的大小来调节夹持机构(13)的夹持宽度,通过设置的压力阀(4),能够精准控制气压的排放,提高操作过程中的安全性。
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