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1. WO2020246887 - ALIGNEMENT ET LECTURE DE PUCES OPTIQUES

Numéro de publication WO/2020/246887
Date de publication 10.12.2020
N° de la demande internationale PCT/NL2020/050365
Date du dépôt international 05.06.2020
CIB
G01N 21/77 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
75Systèmes dans lesquels le matériau est soumis à une réaction chimique, le progrès ou le résultat de la réaction étant analysé
77en observant l'effet sur un réactif chimique
G02B 6/42 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
6Guides de lumière; Détails de structure de dispositions comprenant des guides de lumière et d'autres éléments optiques, p.ex. des moyens de couplage
24Couplage de guides de lumière
42Couplage de guides de lumière avec des éléments opto-électroniques
CPC
G01N 21/25
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
G02B 6/4222
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
6Light guides
24Coupling light guides
42Coupling light guides with opto-electronic elements
4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
4219Mechanical fixtures for holding or positioning the elements relative to each other in the couplings; Alignment methods for the elements, e.g. measuring or observing methods especially used therefor
422Active alignment, i.e. moving the elements in response to the detected degree of coupling or position of the elements
4221involving a visual detection of the position of the elements, e.g. by using a microscope or a camera
4222by observing back-reflected light
Déposants
  • DELTA DIAGNOSTICS B.V. [NL]/[NL]
Inventeurs
  • DE BOER, Bart Michiel
  • HARMSMA, Peter Johan
Mandataires
  • WITMANS, H.A.
Données relatives à la priorité
202327507.06.2019NL
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) ALIGNMENT AND READOUT OF OPTICAL CHIPS
(FR) ALIGNEMENT ET LECTURE DE PUCES OPTIQUES
Abrégé
(EN) In a method or system for interrogating an optical chip (50), the optical chip (50) is illuminated with input light (30) and a spatially resolved image (50i) of the output light (31,32) is measured from the optical chip (50). The output light (31,32) is imaged together with a reflection of the input light (30). For example, this can be used to establish, improve, or maintain alignment of the input light (30) on a sensor input port (51) of the optical chip (50). The same detector (17) measures the spatially resolved image and a spectral response of the optical chip (50).
(FR) L'invention concerne un procédé ou un système d'interrogation d'une puce optique (50), dans lequel la puce optique (50) est éclairée par une lumière d'entrée (30) et une image à résolution spatiale (50i) de la lumière de sortie (31, 32) est mesurée à partir de la puce optique (50). La lumière de sortie (31, 32) est imagée conjointement avec une réflexion de la lumière d'entrée (30). Par exemple, l'invention peut être utilisée pour établir, améliorer ou maintenir l'alignement de la lumière d'entrée (30) sur un port d'entrée de capteur (51) de la puce optique (50). Le même détecteur (17) mesure l'image résolue spatialement et une réponse spectrale de la puce optique (50).
Documents de brevet associés
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