(EN) An optical characterization system is disclosed. The optical characterization system may comprise a synchrotron source, an optical characterization sub-system, and a sensor configured to receive a projected image from a set of imaging optics. The optical characterization sub-system may include at least the set of illumination optics, a set of imaging optics, and a diffractive optical element, a temporal modulator or an optical waveguide configured to match an etendue of a light beam output by the synchrotron source to the set of illumination optics. A method of matching the etendue of a light beam is also disclosed.
(FR) L'invention concerne un système de caractérisation optique. Le système de caractérisation optique peut comprendre une source synchrotron, un sous-système de caractérisation optique et un capteur configuré pour recevoir une image projetée à partir d'un ensemble d'optiques d'imagerie. Le sous-système de caractérisation optique peut comprendre au moins l'ensemble d'optiques d'éclairage, un ensemble d'optiques d'imagerie et un élément optique diffractif, un modulateur temporel ou un guide d'ondes optique configuré pour faire correspondre une étendue d'un faisceau lumineux émis par la source synchrotron à l'ensemble d'optiques d'éclairage. L'invention porte en outre sur un procédé d'appariement de l'étendue d'un faisceau lumineux.