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1. WO2020242460 - DÉTERMINATION DE L'ÉTAT DE FONCTIONNEMENT DE COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES

Numéro de publication WO/2020/242460
Date de publication 03.12.2020
N° de la demande internationale PCT/US2019/034261
Date du dépôt international 29.05.2019
CIB
G06F 13/00 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
13Interconnexion ou transfert d'information ou d'autres signaux entre mémoires, dispositifs d'entrée/sortie ou unités de traitement
G01R 31/66 2020.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
50Test d’appareils, de lignes, de câbles ou de composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de continuité, de fuites de courant ou de connexions incorrectes de lignes
66Test de connexions, p.ex. de fiches de prises de courant ou de raccords non déconnectables
CPC
G01R 1/0416
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
0416Connectors, terminals
G01R 29/10
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
08Measuring electromagnetic field characteristics
10Radiation diagrams of antennas
G01R 31/2808
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
Déposants
  • HEWLET-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P. [US]/[US]
Inventeurs
  • CHEN, Po Chao
  • CHIEN, Chih-Hung
  • WU, Shih Huang
Mandataires
  • JENNEY, Michael
Données relatives à la priorité
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) WORKING STATE DETERMINATION OF ELECTRONIC COMPONENTS
(FR) DÉTERMINATION DE L'ÉTAT DE FONCTIONNEMENT DE COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES
Abrégé
(EN) Techniques for determining a working state of an electronic component of an electronic device are described. The electronic component is coupled to the electronic device via a connection interface and a connector. The electronic device further comprises a contact detection assembly. The contact detection assembly detects a position of the connector relative to a connection interface. Based on the position of the connector relative to the connection interface, a state of connection between the connector and the connection interface is determined.
(FR) L'invention concerne des techniques de détermination d'un état de fonctionnement d'un composant électronique d'un dispositif électronique. Le composant électronique est connecté au dispositif électronique par le biais d'une interface de connexion et d'un connecteur. Le dispositif électronique comprend en outre un ensemble de détection de contact. L'ensemble de détection de contact détecte une position du connecteur par rapport à une interface de connexion. Un état de connexion entre le connecteur et l'interface de connexion est déterminé en se basant sur la position du connecteur par rapport à l'interface de connexion.
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