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1. WO2020198016 - SYSTÈMES ET PROCÉDÉS HYBRIDES DE CARACTÉRISATION D'UNE CONTRAINTE DANS DES SUBSTRATS TRANSPARENTS CHIMIQUEMENT RENFORCÉS

Numéro de publication WO/2020/198016
Date de publication 01.10.2020
N° de la demande internationale PCT/US2020/023879
Date du dépôt international 20.03.2020
CIB
G01L 1/24 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
LMESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
1Mesure des forces ou des contraintes, en général
24en mesurant les variations des propriétés optiques du matériau quand il est soumis à une contrainte, p.ex. par l'analyse des contraintes par photo-élasticité
CPC
G01B 11/168
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
16for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
168by means of polarisation
G01J 4/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
4Measuring polarisation of light
02Polarimeters of separated-field type; Polarimeters of half-shadow type
G01L 1/241
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
1Measuring force or stress, in general
24by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis ; using infra-red, visible light, ultra-violet
241by photoelastic stress analysis
Déposants
  • CORNING INCORPORATED [US]/[US]
Inventeurs
  • ANDREWS, Ryan Claude
  • BOUZI, Pierre Michel
  • FURNAS, William John
  • JACOBSON, Jeremiah Robert
  • NEWCOMER, Glenn Abram
  • OLSON, Evan Lewis
  • RAJ, Babak Robert
  • ROUSSEV, Rostislav Vatchev
  • STEPANOV, Viktor
  • WETMORE, Nathaniel David
Mandataires
  • MCGROARTY, John P.
Données relatives à la priorité
62/822,43722.03.2019US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) HYBRID SYSTEMS AND METHODS FOR CHARACTERIZING STRESS IN CHEMICALLY STRENGTHENED TRANSPARENT SUBSTRATES
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS HYBRIDES DE CARACTÉRISATION D'UNE CONTRAINTE DANS DES SUBSTRATS TRANSPARENTS CHIMIQUEMENT RENFORCÉS
Abrégé
(EN)
The hybrid measurement system includes an evanescent prism coupling spectroscopy (EPCS) sub-system and a light-scattering polarimetry (LSP) sub-system. The EPCS sub-system includes an EPCS light source optically coupled to an EPCS detector system through an EPCS coupling prism. The LSP sub-system includes an LSP light source optically coupled to an optical compensator, which in turn is optically coupled to a LSP detector system via a LSP coupling prism. A support structure supports the EPCS and LSP coupling prisms to define a coupling prism assembly, which supports the two prisms at a measurement location. Stress measurements made using the EPCS and LSP sub-systems are combined to fully characterize the stress properties of a transparent chemically strengthened substrate. Methods of processing the EPCS and LSP measurements to improve measurement accuracy are also disclosed.
(FR)
L'invention concerne un système de mesure hybride comprenant un sous-système de spectroscopie de couplage de prisme évanescent (EPCS) et un sous-système de polarimétrie de diffusion de lumière (LSP). Le sous-système EPCS comprend une source de lumière EPCS couplée optiquement à un système de détecteur EPCS par l'intermédiaire d'un prisme de couplage EPCS. Le sous-système LSP comprend une source de lumière LSP optiquement couplée à un compensateur optique lui-même optiquement couplé à un système de détecteur LSP par l'intermédiaire d'un prisme de couplage LSP. Une structure de maintien maintient les prismes de couplage EPCS et LSP afin de définir un ensemble prisme de couplage, qui maintient les deux prismes à un emplacement de mesure. Des mesures de contrainte réalisées à l'aide des sous-systèmes EPCS et LSP sont combinées afin de caractériser complètement les propriétés de contrainte d'un substrat transparent chimiquement renforcé. L'invention concerne également des procédés de traitement des mesures EPCS et LSP permettant d'améliorer la précision de mesure.
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