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1. WO2020195495 - APPAREIL, PROCÉDÉ ET PROGRAMME D'AIDE AU DIAGNOSTIC DE L'ÉTAT D'UN PANNEAU

Numéro de publication WO/2020/195495
Date de publication 01.10.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2020/007833
Date du dépôt international 26.02.2020
CIB
G05B 23/02 2006.01
GPHYSIQUE
05COMMANDE; RÉGULATION
BSYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU DE TEST DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
23Test ou contrôle des systèmes de commande ou de leurs éléments
02Test ou contrôle électrique
Déposants
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 佃 光樹 TSUKUDA, Koki
Mandataires
  • 山尾 憲人 YAMAO, Norihito
  • 徳山 英浩 TOKUYAMA, Hidehiro
Données relatives à la priorité
2019-05837926.03.2019JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR ASSISTING STATUS DIAGNOSIS OF PANEL
(FR) APPAREIL, PROCÉDÉ ET PROGRAMME D'AIDE AU DIAGNOSTIC DE L'ÉTAT D'UN PANNEAU
(JA) 盤の状態診断を支援する装置、方法、およびプログラム
Abrégé
(EN)
This apparatus 100 for assisting status diagnosis on a panel 200 is provided with a first memory 40, a processor 60, and a display device 30. The first memory 40 accumulates troubleshoot results that at least indicate the details of troubles identified during troubleshooting performed on panel components 210, 22. The processor 60 tallies the troubleshooting results and then generates diagnostic information indicative of a trouble occurrence tendency latent in the panel 200. The display device 30 outputs the diagnostic information generated by the processor 60.
(FR)
La présente invention concerne un appareil d'aide au diagnostic de l'état d'un panneau (100) pourvu d'une première mémoire (40), d'un processeur (60), et d'un dispositif d'affichage (30). La première mémoire (40) accumule des résultats de dépannage qui indiquent au moins les détails de problèmes identifiés pendant le dépannage effectué sur des composants de panneau (210, 22). Le processeur (60) décompte les résultats de dépannage et génère ensuite des informations de diagnostic indicatives d'une tendance d'apparition de problème latente dans le panneau (200). Le dispositif d'affichage (30) délivre les informations de diagnostic générées par le processeur (60).
(JA)
盤200の状態診断を支援する装置100は、第1のメモリ40、プロセッサ60、および表示装置30を、備える。第1のメモリ40は、盤構成要素210,22に対して実施されたトラブルシュートによって特定された、トラブルの内容を少なくとも示す、トラブルシュート結果を蓄積する。プロセッサ60は、トラブルシュート結果を集計して、盤200に潜在するトラブル発生傾向を表す診断情報を生成する。表示装置30は、プロセッサ60により生成された診断情報を出力する。
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