Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2020184087 - DISPOSITIF D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE, ET PROGRAMME D'ANALYSE

Numéro de publication WO/2020/184087
Date de publication 17.09.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2020/006264
Date du dépôt international 18.02.2020
CIB
G05B 19/418 2006.01
GPHYSIQUE
05COMMANDE; RÉGULATION
BSYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU DE TEST DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
19Systèmes de commande à programme
02électriques
418Commande totale d'usine, c.à d. commande centralisée de plusieurs machines, p.ex. commande numérique directe ou distribuée (DNC), systèmes d'ateliers flexibles (FMS), systèmes de fabrication intégrés (IMS), productique (CIM)
CPC
G05B 19/418
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
19Programme-control systems
02electric
418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS], computer integrated manufacturing [CIM]
Déposants
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 服部 玲子 HATTORI, Reiko
  • 太田 雄也 OTA, Yuya
Mandataires
  • 立花 顕治 TACHIBANA, Kenji
  • 山下 未知子 YAMASHITA, Michiko
  • 桝田 剛 MASUDA, Tsuyoshi
Données relatives à la priorité
2019-04574313.03.2019JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE, ET PROGRAMME D'ANALYSE
(JA) 解析装置、解析方法、及び解析プログラム
Abrégé
(EN)
An analysis device according to an aspect of the present invention: acquires a plurality of instances of premise information and measurement data which relate to states of a plurality of devices which configure a production line; identifies causal relationships among the plurality of devices by statistically analyzing the plurality of instances of measurement data under constraint conditions imposed by the premise information; outputs causal relationship information indicating the identified causal relationships; accepts a revision to the causal relationships indicated by the outputted causal relationship information; revises the premise information so as to impose the constraint conditions which comport with the revised causal relationships; and saves the revised premise information.
(FR)
Selon un aspect de la présente invention, un dispositif d'analyse : acquiert une pluralité d'instances d'informations de prémisse et de données de mesure qui se rapportent à des états d'une pluralité de dispositifs qui configurent une ligne de production; identifie des relations causales parmi la pluralité de dispositifs par analyse statistique de la pluralité d'instances de données de mesure dans des conditions de contrainte imposées par les informations des prémisse; délivre en sortie des informations de relation causale indiquant les relations causales identifiées; accepte une révision des relations causales indiquées par les informations de relation causale délivrées; révise les informations de prémisse de façon à imposer les conditions de contrainte qui correspondent aux relations causales révisées; et sauvegarde les informations de prémisse révisées.
(JA)
本発明の一側面に係る解析装置は、生産ラインを構成する複数の機構の状態に関する複数件の計測データ及び前提情報を取得し、前提情報により与えられる制約条件の下、複数件の計測データを統計的に解析することで、複数の機構間の因果関係を特定し、特定された因果関係を示す因果関係情報を出力し、出力された因果関係情報により示される因果関係に対する修正を受け付け、修正された因果関係に適合する制約条件を与えるように前提情報を修正し、修正された前提情報を保存する。
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international