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1. WO2020182149 - BÂTI D’ESSAI DE RÉSISTANCE

Numéro de publication WO/2020/182149
Date de publication 17.09.2020
N° de la demande internationale PCT/CN2020/078797
Date du dépôt international 11.03.2020
CIB
G01R 1/067 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
G01R 27/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
27Dispositions pour procéder aux mesures de résistance, de réactance, d'impédance, ou de caractéristiques électriques qui en dérivent
02Mesure de résistances, de réactances, d'impédances réelles ou complexes, ou autres caractéristiques bipolaires qui en dérivent, p.ex. constante de temps
G01R 31/26 2014.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
CPC
G01R 1/067
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
G01R 27/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
27Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
G01R 31/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
26Testing of individual semiconductor devices
Déposants
  • 深圳市杰普特光电股份有限公司 SHENZHEN JPT OPTO-ELECTRONICS CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 许根夫 XU, Genfu
  • 陆志华 LOCK, Chee Wah
Mandataires
  • 广州华进联合专利商标代理有限公司 ADVANCE CHINA IP LAW OFFICE
Données relatives à la priorité
201910178499.811.03.2019CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) RESISTANCE TEST FIXTURE
(FR) BÂTI D’ESSAI DE RÉSISTANCE
(ZH) 电阻测试治具
Abrégé
(EN)
A resistance test fixture (100), comprising a substrate (20), an electric linear module (30) mounted on the substrate (20), a movable probe assembly (40) connected to the electric linear module (30), and a fixed probe assembly (50) connected to the substrate (20). The electric linear module (30) comprises a base (31) connected to the substrate (20), a driving motor (32) connected to the base (31), and a sliding platform (33) slidably provided on the base (31). The movable probe assembly (40) is connected to the sliding platform (33). The driving motor (32) drives the sliding platform (33) to drive the movable probe assembly (40) to move with respect to the fixed probe assembly (50). The fixed probe assembly (50) and the movable probe assembly (40) are provided corresponding to each other. The resistance test fixture (100) also comprises a first carrier assembly (60) connected to the sliding platform (33). The first carrier assembly (60) comprises a first adapter plate (61) connected to the sliding platform (33), a first clamp plate (62) connected to the first adapter plate (61), and a first carrier plate (63). The driving motor (32) drives the sliding platform (33) to move with respect to the base (31). Since the movable probe assembly (40) is connected to the sliding platform (33) and the fixed probe assembly (50) is connected to the substrate (20), the distance between the movable probe assembly (40) and the fixed probe assembly (50) can be precisely adjusted, so that the distance corresponds to the distance between the two ports of the resistor accurately.
(FR)
L’invention concerne un bâti d’essai de résistance (100), comprenant un substrat (20), un module linéaire électrique (30) monté sur le substrat (20), un ensemble de sondes mobile (40) connecté au module linéaire électrique (30), et un ensemble de sondes fixe (50) connecté au substrat (20). Le module linéaire électrique (30) comprend une base (31) connectée au substrat (20), un moteur d’entraînement (32) connecté à la base (31), et une plateforme coulissante (33) disposée de manière coulissante sur la base (31). L’ensemble de sondes mobile (40) est connecté à la plateforme coulissante (33). Le moteur d’entraînement (32) entraîne la plateforme coulissante (33) pour entraîner l’ensemble de sondes mobile (40) pour qu’elle se déplace par rapport à l’ensemble de sondes fixe (50). L’ensemble de sondes fixe (50) et l’ensemble de sondes mobile (40) sont disposés de manière à correspondre l’un à l’autre. Le bâti d’essai de résistance (100) comprend également un premier ensemble porteur (60) connecté à la plateforme coulissante (33). Le premier ensemble porteur (60) comprend une première plaque d’adaptateur (61) connectée à la plateforme coulissante (33), une première plaque de serrage (62) connectée à la première plaque d’adaptateur (61), et une première plaque porteuse (63). Le moteur d’entraînement (32) entraîne la plateforme coulissante (33) pour qu’elle se déplace par rapport à la base (31). Puisque l’ensemble de sondes mobile (40) est connecté à la plateforme coulissante (33) et que l’ensemble de sondes fixe (50) est connecté au substrat (20), la distance entre l’ensemble de sondes mobile (40) est l’ensemble de sondes fixe (50) peut être réglée précisément, de sorte que la distance corresponde fidèlement à la distance entre les deux ports de la résistance.
(ZH)
一种电阻测试治具(100),包括基板(20)、安装在基板(20)上的电动线性模组(30)、连接电动线性模组(30)的活动探针组件(40)、及连接基板(20)的固定探针组件(50);电动线性模组(30)包括连接基板(20)的底座(31)、连接底座(31)的驱动电机(32)、及滑动设置在底座(31)上的滑台(33);活动探针组件(40)连接滑台(33),驱动电机(32)驱动滑台(33)带动活动探针组件(40)相对固定探针组件(50)移动;固定探针组件(50)与活动探针组件(40)对应设置;还包括连接滑台(33)的第一载具组件(60),第一载具组件(60)包括连接滑台(33)的第一转接板(61)、连接第一转接板(61)的第一卡板(62)、及第一载板(63);通过驱动电机(32)驱动滑台(33)相对底座(31)移动,由于活动探针组件(40)与滑台(33)连接,固定探针组件(50)连接基板(20),从而可精确地调节活动探针组件(40)与固定探针组件(50)之间的距离,使其与电阻的两端口之间的距离准确对应。
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