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1. WO2020163332 - SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE UTILISANT UNE RÉFÉRENCE PROJETÉE POUR GUIDER LE RÉGLAGE D'UNE OPTIQUE DE CORRECTION

Numéro de publication WO/2020/163332
Date de publication 13.08.2020
N° de la demande internationale PCT/US2020/016581
Date du dépôt international 04.02.2020
CIB
G02B 7/34 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
7Montures, moyens de réglage ou raccords étanches à la lumière pour éléments optiques
28Systèmes pour la génération automatique de signaux de mise au point
34utilisant des zones différentes dans un plan pupillaire
G02B 21/24 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
24Structure du bâti ou statif
G02B 27/00 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27Systèmes ou appareils optiques non prévus dans aucun des groupes G02B1/-G02B26/117
CPC
G02B 21/0072
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0052Optical details of the image generation
0072details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
G02B 21/02
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
02Objectives
G02B 21/241
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
241Devices for focusing
G02B 21/242
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
241Devices for focusing
242with coarse and fine adjustment mechanism
G02B 21/244
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
241Devices for focusing
244using image analysis techniques
G02B 21/245
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
241Devices for focusing
245using auxiliary sources, detectors
Déposants
  • MOLECULAR DEVICES, LLC [US]/[US]
Inventeurs
  • CHAN, Matthew
Mandataires
  • JAGENOW, Andrew, L.
Données relatives à la priorité
16/268,84206.02.2019US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) IMAGING SYSTEM AND METHOD USING A PROJECTED REFERENCE TO GUIDE ADJUSTMENT OF A CORRECTION OPTIC
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE UTILISANT UNE RÉFÉRENCE PROJETÉE POUR GUIDER LE RÉGLAGE D'UNE OPTIQUE DE CORRECTION
Abrégé
(EN)
System and method using a projected reference to guide adjustment of a correction optic. In an exemplary method, a reference may be projected onto an imaging detector by propagation of light generally along an optical axis that extends from the reference, through an objective, to a surface of a sample holder, and from the surface, back through the objective, to the imaging detector. The light may propagate through an off-axis aperture located upstream of the imaging detector and spaced from the optical axis. A plurality of images of the reference may be captured using the imaging detector, and with a correction optic at two or more different settings. A setting for the correction optic may be selected based on the plurality of images, and a sample may be imaged while the correction optic has the selected setting.
(FR)
L'invention concerne un système et un procédé utilisant une référence projetée pour guider le réglage d'une optique de correction. Dans un procédé donné à titre d'exemple, une référence peut être projetée sur un détecteur d'imagerie par propagation de la lumière généralement le long d'un axe optique qui s'étend à partir de la référence, à travers un objectif, sur une surface d'un porte-échantillon, et à partir de la surface, en retour à travers l'objectif, vers le détecteur d'imagerie. La lumière peut se propager à travers une ouverture hors axe située en amont du détecteur d'imagerie et espacée de l'axe optique. Une pluralité d'images de la référence peuvent être capturées à l'aide du détecteur d'imagerie, et avec une optique de correction à deux réglages différents ou plus. Un réglage pour l'optique de correction peut être sélectionné sur la base de la pluralité d'images, et un échantillon peut être imagé tandis que l'optique de correction a le réglage sélectionné.
Également publié en tant que
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