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1. WO2020163113 - SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE BALAYAGE TÉLÉCENTRIQUES MACRO-MICRO

Numéro de publication WO/2020/163113
Date de publication 13.08.2020
N° de la demande internationale PCT/US2020/015351
Date du dépôt international 28.01.2020
CIB
G02B 21/36 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
36aménagés pour la photographie ou la projection
G02B 21/26 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
24Structure du bâti ou statif
26Platines; Moyens de réglage pour celles-ci
CPC
G01N 21/64
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
G01N 21/6456
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
645Specially adapted constructive features of fluorimeters
6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
G01S 17/89
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
17Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
88Lidar systems specially adapted for specific applications
89for mapping or imaging
G02B 21/002
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
G02B 21/0032
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
G02B 21/0052
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0052Optical details of the image generation
Déposants
  • LI-COR, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • BOUZID, Ahmed
Mandataires
  • GRAY, Gerald, T.
Données relatives à la priorité
16/752,48324.01.2020US
62/798,33229.01.2019US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) MACRO-MICRO TELECENTRIC SCANNING SYSTEMS AND METHODS
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE BALAYAGE TÉLÉCENTRIQUES MACRO-MICRO
Abrégé
(EN)
Dual mode imaging systems and methods for macroscopic and microscopic imaging using the same optical imaging system (OIS). The various embodiments enable controllable and/or automated switching between macroscopic imaging and microscopic imaging modes. A dual mode imaging system includes a sample platform movable relative to an OIS between first and second locations, and a light source subsystem configured to generate and project an illumination beam onto a focal plane. When in the first location, the sample platform coincides with the focal plane, and the OIS receives light from the sample platform along a first detection light path. When in the second location, the illumination beam interacts with relay optics and impinges on the sample platform through an objective lens, and the light from the sample platform is directed back through the objective lens and relay optics to the OIS via the first detection path.
(FR)
L'invention concerne des systèmes et des procédés d'imagerie à double mode pour une imagerie macroscopique et microscopique à l'aide du même système d'imagerie optique (OIS). Les divers modes de réalisation permettent une commutation contrôlable et/ou automatisée entre des modes d'imagerie macroscopique et d'imagerie microscopique. Un système d'imagerie à double mode comprend une plate-forme d'échantillon mobile par rapport à un OIS entre des premier et second emplacements, et un sous-système de source de lumière configuré pour générer et projeter un faisceau d'éclairage sur un plan focal. Lorsqu'il se trouve dans le premier emplacement, la plate-forme d'échantillon coïncide avec le plan focal, et l'OIS reçoit de la lumière provenant de la plate-forme d'échantillon le long d'un premier trajet de lumière de détection. Lorsqu'il se trouve dans le second emplacement, le faisceau d'éclairage interagit avec l'optique de relais et frappe la plate-forme d'échantillon à travers une lentille d'objectif, et la lumière provenant de la plate-forme d'échantillon est renvoyée par l'intermédiaire de la lentille d'objectif et de l'optique de relais à l'OIS par l'intermédiaire du premier trajet de détection.
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