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1. WO2020162042 - DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE

Numéro de publication WO/2020/162042
Date de publication 13.08.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/048887
Date du dépôt international 13.12.2019
CIB
G01N 35/02 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
02en utilisant une série de récipients à échantillons déplacés par un transporteur passant devant un ou plusieurs postes de traitement ou d'analyse
G01N 35/04 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
02en utilisant une série de récipients à échantillons déplacés par un transporteur passant devant un ou plusieurs postes de traitement ou d'analyse
04Détails du transporteur
CPC
G01N 35/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
G01N 35/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
04Details of the conveyor system
Déposants
  • 株式会社日立ハイテク HITACHI HIGH-TECH CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 瀬戸丸 武 SETOMARU Takeshi
  • 三島 弘之 MISHIMA Hiroyuki
Mandataires
  • 岩崎 重美 IWASAKI Shigemi
Données relatives à la priorité
2019-02115408.02.2019JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
Abrégé
(EN)
Provided are a device and a method capable of determining an optimal retrieving condition of a specimen rack according to various situations, when an error occurs in any specimen among a plurality of specimens mounted on the specimen rack. When the error occurs in a specimen accommodated in a specimen container mounted on the specimen rack, conveyance of the specimen rack is controlled on the basis of information about the specimen having the error and a specimen accommodated in another specimen container on the specimen rack on which the specimen container with the specimen accommodated therein is mounted, and the retrieval condition of the specimen rack.
(FR)
L'invention concerne un dispositif et un procédé aptes à déterminer un état de récupération optimal d'un portoir d'échantillons selon diverses situations, lorsqu'une erreur se produit dans un quelconque échantillon parmi une pluralité d'échantillons montés sur le portoir d'échantillons. Lorsque l'erreur se produit dans un échantillon reçu dans un récipient d'échantillon monté sur le portoir d'échantillons, le transport du portoir d'échantillons est commandé sur la base d'informations relatives à l'échantillon ayant l'erreur et à un échantillon reçu dans un autre récipient d'échantillon sur le portoir d'échantillons sur lequel le récipient d'échantillon avec l'échantillon reçu à l'intérieur de celui-ci est monté, et de l'état de récupération du support d'échantillon.
(JA)
検体ラックに搭載された複数の検体のうち、ある検体においてエラーが発生した際に、種々の状況に応じて最適な検体ラックの回収の条件を決定することができる装置、及び方法を提供する。 前記検体ラックに搭載された前記検体容器に収容される検体にエラーがあった場合に、当該エラーがあった検体、及び当該検体を収容する検体容器を搭載する検体ラックにおける他の検体容器に収容される検体の情報と、検体ラックの回収条件と、に基づいて、前記検体ラックの搬送を制御する。
Également publié en tant que
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