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1. WO2020158172 - DISPOSITIF DE CAPTEUR

Numéro de publication WO/2020/158172
Date de publication 06.08.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/047155
Date du dépôt international 03.12.2019
CIB
G01D 18/00 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
DMESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU TESTS NON PRÉVUS AILLEURS
18Test ou étalonnage des appareils ou des dispositions prévus dans les groupes G01D1/-G01D15/129
G01K 15/00 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
KMESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
15Test ou étalonnage des thermomètres
G01L 25/00 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
LMESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
25Test ou étalonnage des appareils pour la mesure des forces, du couple, du travail, de la puissance ou du rendement mécanique
G08C 19/00 2006.1
GPHYSIQUE
08SIGNALISATION
CSYSTÈMES DE TRANSMISSION POUR VALEURS MESURÉES, SIGNAUX DE COMMANDE OU SIMILAIRES
19Systèmes de transmission de signaux électriques
G08C 25/00 2006.1
GPHYSIQUE
08SIGNALISATION
CSYSTÈMES DE TRANSMISSION POUR VALEURS MESURÉES, SIGNAUX DE COMMANDE OU SIMILAIRES
25Dispositions pour prévenir ou corriger les erreurs; Dispositions de contrôle
G01L 5/00 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
LMESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
5Appareils ou procédés pour la mesure des forces, du travail, de la puissance mécanique ou du couple, spécialement adaptés à des fins spécifiques
CPC
G01D 18/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
18Testing or calibrating of apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
G01K 15/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
15Testing or calibrating of thermometers
G01K 7/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
7Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat
G01L 25/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
25Testing or calibrating of apparatus for measuring force, torque, work, mechanical power, or mechanical efficiency
G01L 5/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
5Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes
G08C 19/00
GPHYSICS
08SIGNALLING
CTRANSMISSION SYSTEMS FOR MEASURED VALUES, CONTROL OR SIMILAR SIGNALS
19Electric signal transmission systems
Déposants
  • ニッタ株式会社 NITTA CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 初田 雅弘 HATSUDA, Masahiro
  • 山本 尚 YAMAMOTO, Hisashi
Mandataires
  • 立花 顕治 TACHIBANA, Kenji
  • 山下 未知子 YAMASHITA, Michiko
  • 桝田 剛 MASUDA, Tsuyoshi
Données relatives à la priorité
2019-01429330.01.2019JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SENSOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE CAPTEUR
(JA) センサ装置
Abrégé
(EN)
The present invention provides a sensor device capable of easily acquiring calibration data of a sensor element. The sensor device is provided with a substrate, a sensing part disposed on the substrate and including the sensor element for detecting at least one of pressure and temperature, and a storage part which is disposed on the substrate and stores the calibration data of the sensor element.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de capteur pouvant acquérir facilement des données d'étalonnage d'un élément de capteur. Le dispositif de capteur est pourvu d'un substrat, d'une partie de détection disposée sur le substrat et comprenant l'élément de capteur pour détecter la pression et/ou la température, et une partie de stockage qui est disposée sur le substrat et stocke les données d'étalonnage de l'élément de capteur.
(JA)
センサ素子のキャリブレーションデータを容易に取得することができるセンサ装置が提供される。センサ装置は、基材と、前記基材上に配置され、圧力及び温度の少なくとも一方を検出するセンサ素子を含むセンシング部と、前記基材上に配置され、前記センサ素子のキャリブレーションデータを格納する記憶部とを備える。
Également publié en tant que
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