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1. WO2020157795 - DISPOSITIF DE TEST, PROCÉDÉ DE TEST ET PROGRAMME DE TEST

Numéro de publication WO/2020/157795
Date de publication 06.08.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/002721
Date du dépôt international 28.01.2019
CIB
G06F 11/36 2006.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
36Prévention d'erreurs en effectuant des tests ou par débogage de logiciel
CPC
G06F 11/36
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
36Preventing errors by testing or debugging software
Déposants
  • 三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 小野 優也 ONO, Yuya
  • 茂田井 寛隆 MOTAI, Hirotaka
  • 水口 武尚 MIZUGUCHI, Takehisa
Mandataires
  • 溝井国際特許業務法人 MIZOI INTERNATIONAL PATENT FIRM
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) TEST DEVICE, TEST METHOD, AND TEST PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE TEST, PROCÉDÉ DE TEST ET PROGRAMME DE TEST
(JA) 試験装置、試験方法および試験プログラム
Abrégé
(EN)
A test device (100) tests a software platform (106) by executing, using the software platform (106), an application program (111) that performs a series of function call processes. A log acquisition unit (201) repeatedly executes the application program (111) a plurality of times, and acquires a trace log (113) including a plurality of tracing results obtained by tracing the series of function call processes. A log analysis unit (202) analyzes the trace log (113) and thereby estimates, as a variable attribute, each attribute that is represented by the arguments and the return value of a function called by the series of function call processes. A program generation unit (203) uses each variable attribute to generate a reproduction program (303) for reproducing the series of function call processes.
(FR)
L’invention concerne un dispositif de test (100) qui teste une plateforme logicielle (106) en exécutant, à l'aide de la plateforme logicielle (106), un programme d'application (111) qui effectue une série de processus d'appel de fonction. Une unité d'acquisition de journal (201) exécute, de manière répétée, le programme d'application (111) une pluralité de fois, et acquiert un journal de trace (113) comprenant une pluralité de résultats de traçage obtenus par traçage de la série de processus d'appel de fonction. Une unité d'analyse de journal (202) analyse le journal de trace (113) et estime ainsi, en tant qu'attribut variable, chaque attribut qui est représenté par les arguments et la valeur de retour d'une fonction appelée par la série de processus d'appel de fonction. Une unité de génération de programme (203) utilise chaque attribut variable pour générer un programme de reproduction (303) pour reproduire la série de processus d'appel de fonction.
(JA)
試験装置(100)は、ソフトウェアプラットフォーム(106)を利用して一連の関数呼び出し処理を行うアプリケーションプログラム(111)を実行し、ソフトウェアプラットフォーム(106)の試験を行う。ログ取得部(201)は、アプリケーションプログラム(111)を複数回繰り返し実行し、一連の関数呼び出し処理をトレースしたトレース結果を複数含むトレースログ(113)を取得する。ログ解析部(202)は、トレースログ(113)を解析することにより、一連の関数呼び出し処理により呼び出される関数の引数と返り値との各々の属性を変数属性として推定する。プログラム生成部(203)は、変数属性を用いて、一連の関数呼び出し処理を再現する再現プログラム(303)を生成する。
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