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1. WO2020157263 - PROCEDES ET SYSTEMES POUR L'IMAGERIE DE CONTRASTE PHASE

Numéro de publication WO/2020/157263
Date de publication 06.08.2020
N° de la demande internationale PCT/EP2020/052401
Date du dépôt international 31.01.2020
CIB
G01N 23/041 2018.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
02en transmettant la radiation à travers le matériau
04et formant des images des matériaux
041Imagerie en contraste de phase, p.ex. en utilisant des interféromètres à réseau
CPC
G01N 2223/1016
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
10Different kinds of radiation or particles
101electromagnetic radiation
1016X-ray
G01N 2223/32
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
30Accessories, mechanical or electrical features
32adjustments of elements during operation
G01N 2223/612
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
60Specific applications or type of materials
612biological material
G01N 23/041
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
Déposants
  • IMAGINE OPTIC [FR]/[FR]
Inventeurs
  • LEVECQ, Xavier
  • HARMS, Fabrice
Mandataires
  • OSHA LIANG
Données relatives à la priorité
190096831.01.2019FR
Langue de publication français (FR)
Langue de dépôt français (FR)
États désignés
Titre
(EN) METHODS AND SYSTEMS FOR PHASE CONTRAST IMAGING
(FR) PROCEDES ET SYSTEMES POUR L'IMAGERIE DE CONTRASTE PHASE
Abrégé
(EN)
According to an aspect, the present description relates to a method for phase-contrast imaging of an object, the method comprising: transmitting, using an X-ray source, an illuminating beam; sending the illuminating beam to a detector (230) comprising a two-dimensional arrangement of identical elementary detectors (232), the elementary detectors forming a plurality of groups (234) of elementary detectors which are juxtaposed, each group comprising four elementary detectors which are arranged in a square; positioning at least a first mask (220) between the source and the detector, the first mask comprising a two-dimensional arrangement of first opaque elements (222) which are in a useful spectral band of the X-rays and have given shapes and dimensions such that the projected shadowing (224) of each first opaque element which is illuminated by the illuminating beam partially covers each of the four elementary detectors of a group of elementary detectors; forming a phase contrast image of an object of interest which is arranged near the first mask, the formation of the image comprising the acquisition of a plurality of image elements which are each associated with a group of the plurality of groups of elementary detectors, the acquisition of an image element comprising the measurement of the movement of the projected shadowing of a first opaque element onto the group of elementary detectors.
(FR)
Selon un aspect, la présente description a pour objet un procédé d'imagerie de contraste de phase d'un objet comprenant : l'émission, au moyen d'une source de rayons X, d'un faisceau d'illumination; l'envoi dudit faisceau d'illumination vers un détecteur (230) comprenant un agencement bidimensionnel de détecteurs élémentaires (232) identiques, lesdits détecteurs élémentaires formant une pluralité de groupes (234) de détecteurs élémentaires juxtaposés, chaque groupe comprenant quatre détecteurs élémentaires agencés en carré; le positionnement d'au moins un premier masque (220) entre ladite source et le détecteur, le premier masque comprenant un arrangement bidimensionnel de premiers éléments (222) opaques dans une bande spectrale utile desdits rayons X, de formes et de dimensions données telles que l'ombre projetée (224) de chaque premier élément opaque éclairé par ledit faisceau d'illumination recouvre partiellement chacun des quatre détecteurs élémentaires d'un groupe de détecteurs élémentaires; la formation d'une image de contraste de phase d'un objet d'intérêt agencé à proximité dudit premier masque, la formation de ladite image comprenant l'acquisition d'une pluralité d'éléments d'image associés chacun à un groupe de ladite pluralité de groupes de détecteurs élémentaires, l'acquisition d'un élément d'image comprenant la mesure du déplacement de l'ombre projetée d'un premier élément opaque sur ledit groupe de détecteurs élémentaires.
Également publié en tant que
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