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1. WO2020157214 - PROCÉDÉ D’IMAGERIE MICROSCOPIQUE ET SYSTÈME ASSOCIÉ

Numéro de publication WO/2020/157214
Date de publication 06.08.2020
N° de la demande internationale PCT/EP2020/052320
Date du dépôt international 30.01.2020
CIB
G02B 21/24 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
24Structure du bâti ou statif
B22D 23/00 2006.1
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
22FONDERIE; MÉTALLURGIE DES POUDRES MÉTALLIQUES
DCOULÉE DES MÉTAUX; COULÉE D'AUTRES MATIÈRES PAR LES MÊMES PROCÉDÉS OU AVEC LES MÊMES DISPOSITIFS
23Procédés de coulée non prévus dans les groupes B22D1/-B22D21/99
G02B 21/36 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
36aménagés pour la photographie ou la projection
H01J 37/22 2006.1
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
02Détails
22Dispositifs optiques ou photographiques associés au tube
CPC
G02B 21/24
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
G02B 21/365
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
36arranged for photographic purposes or projection purposes
365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
Déposants
  • LEICA MIKROSYSTEME GMBH [AT]/[AT]
Inventeurs
  • KELLERMANN, Peer, Oliver
Mandataires
  • DEHNSGERMANY PARTNERSCHAFT VON PATENTANWÄLTEN
Données relatives à la priorité
10 2019 102 438.231.01.2019DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VERFAHREN ZUR MIKROSKOPISCHEN BILDERZEUGUNG UND SYSTEM HIERFÜR
(EN) METHOD FOR MICROSCOPIC IMAGE GENERATION AND SYSTEM FOR SAME
(FR) PROCÉDÉ D’IMAGERIE MICROSCOPIQUE ET SYSTÈME ASSOCIÉ
Abrégé
(DE)
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zur Abbildung zumindest eines Teils einer Probe mittels zweier mikroskopischer Bildgebungsverfahren, wobei eine Oberfläche (11) der Probe (10) mittels eines ersten mikroskopischen Bildgebungsverfahrens abgebildet wird, wobei eine Replik (25) der durch das erste mikroskopische Bildgebungsverfahren abzubildenden Oberfläche (11) hergestellt wird und diese Replik (25) mittels eines zweiten mikroskopischen Bildgebungsverfahrens simultan abgebildet wird, wobei die durch das erste und das zweite mikroskopische Bildgebungsverfahren erzeugten Abbildungen maßstabsgetreu überlagert werden.
(EN)
The present invention relates to a method and a system for imaging at least one part of a sample using two microscopic imaging methods, wherein a surface (11) of the sample (10) is imaged using a first microscopic imaging method, wherein a replica (25) of the surface (11) to be imaged by the first microscopic imaging method is produced, and this replica (25) is simultaneously imaged using a second microscopic imaging method, and wherein the images generated by the first and the second microscopic imaging method are superposed in a manner that is true to scale.
(FR)
La présente invention concerne un procédé et un système de formation d’une image d’au moins une partie d’un échantillon au moyen de deux procédés d’imagerie microscopique. Une surface (11) de l’échantillon (10) est imagée au moyen d’un premier procédé d’imagerie microscopique. Une réplique (25) de la surface (11) à imager par le premier procédé d’imagerie microscopique est réalisée, ladite réplique (25) étant imagée simultanément au moyen d’un second procédé d’imagerie microscopique, les images générées par les premier et second procédés d’imagerie microscopique étant superposées à l’échelle.
Également publié en tant que
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