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1. WO2020155461 - PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE GÉNÉRATION D'UN SIGNAL DE COMMANDE DE BIT QUANTIQUE

Numéro de publication WO/2020/155461
Date de publication 06.08.2020
N° de la demande internationale PCT/CN2019/086169
Date du dépôt international 09.05.2019
CIB
G06N 10/00 2019.1
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
NSYSTÈMES DE CALCULATEURS BASÉS SUR DES MODÈLES DE CALCUL SPÉCIFIQUES
10Calculateurs quantiques, c. à d. systèmes de calculateurs basés sur des phénomènes de mécanique quantique
G01R 31/3183 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3183Génération de signaux d'entrée de test, p.ex. vecteurs, formes ou séquences de test
G01R 31/28 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
CPC
G01R 31/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
G01R 31/3183
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
G06F 9/54
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
9Arrangements for program control, e.g. control units
06using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
46Multiprogramming arrangements
54Interprogram communication
G06N 10/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
10Quantum computers, i.e. computer systems based on quantum-mechanical phenomena
Déposants
  • 合肥本源量子计算科技有限责任公司 ORIGIN QUANTUM COMPUTING COMPANY, LIMITED, HEFEI [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 孔伟成 KONG, Weicheng
Mandataires
  • 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) TSINGYIHUA INTELLECTUAL PROPERTY LLC
Données relatives à la priorité
201910093469.730.01.2019CN
201910094220.830.01.2019CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND SYSTEM FOR GENERATING QUANTUM BIT CONTROL SIGNAL
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE GÉNÉRATION D'UN SIGNAL DE COMMANDE DE BIT QUANTIQUE
(ZH) 一种量子比特控制信号生成方法、系统
Abrégé
(EN)
Disclosed in the present invention are a method and system for generating a quantum bit control signal. The method comprises: receiving a first tag code and a first standard signal of each basic quantum logic gate in a corresponding reference quantum gate set sent by an upper computer; storing the first standard signals, and obtaining first address codes for identifying the storage positions of the first standard signals; receiving a target tag code and a target time code of each basic quantum logic gate in a corresponding target quantum program sent by the upper computer; and obtaining first standard signals corresponding to the basic quantum logic gates in the target quantum program according to the target tag codes and the target time codes to serve as signals to be processed, and processing the signals to be processed to obtain quantum bit control signals. According to the present invention, multi-bit quantum bit testing requirements can be satisfied, the quantum bit control signal requirements required by multi-bit quantum bit testing are provided, the response speed of a control signal generating module is greatly improved, and the speed of post-quantum computation is ensured.
(FR)
La présente invention concerne un procédé et un système de génération d'un signal de commande de bit quantique. Le procédé consiste à : recevoir un premier code d'étiquette et un premier signal standard de chaque porte logique quantique de base dans un ensemble de portes quantiques de référence correspondant envoyés par un ordinateur supérieur ; stocker les premiers signaux standard et obtenir de premiers codes d'adresse pour identifier les positions de stockage des premiers signaux standard ; recevoir un code d'étiquette cible et un code temporel cible de chaque porte logique quantique de base dans un programme quantique cible correspondant envoyés par l'ordinateur supérieur ; et obtenir de premiers signaux standard correspondant aux portes logiques quantiques de base dans le programme quantique cible selon les codes d'étiquette cibles et les codes temporels cibles pour servir de signaux à traiter, et traiter les signaux à traiter pour obtenir des signaux de commande de bit quantique. Selon la présente invention, des exigences de test de bit quantique multi-bit peuvent être satisfaites, les exigences de signal de commande de bit quantique requises par un test de bit quantique multi-bit sont fournies, la vitesse de réponse d'un module de génération de signal de commande est considérablement améliorée et la vitesse de calcul post-quantique est assurée.
(ZH)
本发明公开了一种量子比特控制信号生成方法、系统,该方法包括:接收上位机发送的对应基准量子门集中的每一个基本量子逻辑门的第一标签码和第一标准信号;存储所述第一标准信号,并获得标识所述第一标准信号存储位置的第一地址码;接收上位机发送的对应目标量子程序中的每一个基本量子逻辑门的目标标签码和目标时间码;根据所述目标标签码和所述目标时间码获得所述目标量子程序中的基本量子逻辑门的对应的所述第一标准信号作为待处理信号,并处理所述待处理信号获得量子比特控制信号。本发明能够满足多位量子比特测试需求,提供多位量子比特测试所需的量子比特控制信号需求,大大提高了控制信号生成模块的响应速度,保证后级量子运算的速度。
Également publié en tant que
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