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1. WO2020117917 - ATTRIBUTION DE RESSOURCES DE TEST POUR EFFECTUER UN TEST DE COMPOSANTS DE MÉMOIRE

Numéro de publication WO/2020/117917
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/US2019/064436
Date du dépôt international 04.12.2019
CIB
G06F 11/07 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
G06F 11/16 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
16Détection ou correction d'erreur dans une donnée par redondance dans le matériel
G06F 11/20 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
16Détection ou correction d'erreur dans une donnée par redondance dans le matériel
20en utilisant un masquage actif du défaut, p.ex. en déconnectant les éléments défaillants ou en insérant des éléments de rechange
G06F 11/22 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
CPC
G01R 31/003
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
003Environmental or reliability tests
G01R 31/2862
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
2862Chambers or ovens; Tanks
G01R 31/287
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
2868Complete testing stations; systems; procedures; software aspects
287Procedures; Software aspects
G01R 31/2874
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
2872related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
2874related to temperature
Déposants
  • MICRON TECHNOLOGY, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • THIRUVENGADAM, Aswin
  • PARTHASARATHY, Sivagnanam
  • JENSEN, Frederick
Mandataires
  • PORTNOVA, Marina
  • KRUEGER, Paul M.
  • ANDREEV, Dmitry
Données relatives à la priorité
16/209,39304.12.2018US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) ALLOCATION OF TEST RESOURCES TO PERFORM A TEST OF MEMORY COMPONENTS
(FR) ATTRIBUTION DE RESSOURCES DE TEST POUR EFFECTUER UN TEST DE COMPOSANTS DE MÉMOIRE
Abrégé
(EN)
A request to perform a test with one or more memory components can be received. Available test resources of a test platform that is associated with memory components can be determined. The desired characteristics of the one or more memory components that are specified by the test can be determined. One or more of the available test resources of the test platform to the test can be assigned based on characteristics of respective memory components associated with the one or more of the available test resources and the desired characteristics of the one or more memory components of the test. Furthermore, the test can be performed with the assigned one or more of the available test resources of the test platform.
(FR)
Selon l'invention, une demande d'exécution d'un test avec un ou plusieurs composants de mémoire peut être reçue. Des ressources de test disponibles d'une plateforme de test qui est associée à des composants de mémoire peuvent être déterminées. Les caractéristiques souhaitées du ou des composants de mémoire qui sont spécifiés par le test peuvent être déterminées. Une ou plusieurs des ressources de test de la plateforme de test disponibles pour le test peuvent être attribuées en fonction de caractéristiques de composants de mémoire respectifs associés à la ou aux ressources de test disponibles et aux caractéristiques souhaitées du ou des composants de mémoire du test. En outre, le test peut être réalisé avec la ou les ressources de test disponibles de la plateforme de test.
Également publié en tant que
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international