Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2020116410 - APPAREIL D'ANALYSE AUTOMATISÉ

Numéro de publication WO/2020/116410
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/047110
Date du dépôt international 03.12.2019
CIB
G01N 35/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
G01N 35/08 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
08en utilisant un courant d'échantillons discrets circulant dans une canalisation, p.ex. analyse à injection dans un écoulement
CPC
G01N 35/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
G01N 35/08
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
08using a stream of discrete samples flowing along a tube system, e.g. flow injection analysis
Déposants
  • 株式会社日立ハイテク HITACHI HIGH-TECH CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 三宅 雅文 MIYAKE Masafumi
  • 宮川 拓士 MIYAKAWA Takushi
  • 川原 鉄士 KAWAHARA Tetsuji
Mandataires
  • 特許業務法人平木国際特許事務所 HIRAKI & ASSOCIATES
Données relatives à la priorité
2018-22862206.12.2018JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) AUTOMATED ANALYSIS APPARATUS
(FR) APPAREIL D'ANALYSE AUTOMATISÉ
(JA) 自動分析装置
Abrégé
(EN)
The purpose of the present invention is to provide an automated analysis apparatus that can reduce the influence of a pre-sample more reliably, by delivering an internal standard solution. The automated analyzing apparatus according to the present invention determines in advance whether the ion concentration of a first sample is higher than the ion concentration of a second sample by a reference value, and delivers a liquid other than the sample in addition to the internal standard solution (see Fig. 2).
(FR)
La présente invention vise à fournir un appareil d'analyse automatisé qui peut réduire l'influence d'un pré-échantillon de manière plus fiable, en administrant une solution d'étalon interne. L'appareil d'analyse automatisé selon la présente invention détermine à l'avance si la concentration ionique d'un premier échantillon est supérieure à la concentration ionique d'un second échantillon d'une valeur de référence, et délivre un liquide autre que l'échantillon outre la solution d'étalon interne (voir Fig. 2).
(JA)
本発明は、内部標準液を送液することにより、前検体の影響をより確実に低減することができる自動分析装置を提供することを目的とする。本発明に係る自動分析装置は、第1検体のイオン濃度が第2検体のイオン濃度よりも基準値以上大きいか否かをあらかじめ判定し、大きい場合は内部標準液に加えて検体以外の液体を送液する(図2参照)。
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international