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1. WO2020115550 - SÉPARATION CONTRÔLÉE DE GAZ ÉCHANTILLON D'ABLATION LASER DESTINÉE À DE MULTIPLES DÉTECTEURS ANALYTIQUES

Numéro de publication WO/2020/115550
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/IB2019/001310
Date du dépôt international 06.12.2019
CIB
G01N 1/22 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
02Dispositifs pour prélever des échantillons
22à l'état gazeux
G01N 1/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
02Dispositifs pour prélever des échantillons
04à l'état solide, p.ex. par coupe à l'outil
H01J 49/04 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
JTUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02Détails
04Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques
CPC
B23K 26/40
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
26Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
36Removing material
40taking account of the properties of the material involved
G01J 3/443
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
443Emission spectrometry
G01N 1/22
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
02Devices for withdrawing samples
22in the gaseous state
G01N 1/2226
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
02Devices for withdrawing samples
22in the gaseous state
2226Sampling from a closed space, e.g. food package, head space
G01N 2001/045
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
02Devices for withdrawing samples
04in the solid state, e.g. by cutting
045Laser ablation; Microwave vaporisation
G01N 21/718
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
71thermally excited
718Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma
Déposants
  • HUTCHINSON, Robert, W. [GB]/[GB]
  • DOUGLAS, David, N. [GB]/[GB]
Inventeurs
  • HUTCHINSON, Robert, W.
  • DOUGLAS, David, N.
Données relatives à la priorité
62/776,66907.12.2018US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) CONTROLLED SEPARATION OF LASER ABLATION SAMPLE GAS FOR DIRECTION TO MULTIPLE ANALYTIC DETECTORS
(FR) SÉPARATION CONTRÔLÉE DE GAZ ÉCHANTILLON D'ABLATION LASER DESTINÉE À DE MULTIPLES DÉTECTEURS ANALYTIQUES
Abrégé
(EN)
A laser-ablation-based analytical system, comprising: a sample chamber input configured to deliver a sample chamber gas flow comprised of combination of a laser-ablated sample and a sample-carrier gas from a sample chamber; a make-up gas input configured to provide an amount of make-up gas to supplement the combination of the laser-ablated sample and the sample-carrier gas; a vacuum pump fluidly connected to the sample chamber input and the make-up gas input, the vacuum pump configured to create a negative pressure in a sample chamber gas flow downstream of the sample chamber input and upstream of the vacuum pump, the vacuum pump configured to mix the make-up gas and the combination of the laser-ablated sample and the sample-carrier gas to yield a made-up sample transport gas; and an output flow configured to deliver the made-up sample transport gas from the vacuum pump to a detection device for analysis of the laser-ablated sample.
(FR)
L'invention concerne un système analytique fondé sur une ablation laser comprenant : une entrée de chambre d'échantillon conçue pour émettre un flux de gaz de chambre d'échantillon constitué d'une combinaison d'un échantillon ayant subi une ablation au laser et d'un gaz porteur d'échantillon provenant d'une chambre d'échantillon ; une entrée de gaz d'entraînement conçue pour fournir une quantité de gaz d'entraînement afin de compléter la combinaison de l'échantillon ayant subi une ablation au laser et du gaz porteur d'échantillon ; une pompe à vide reliée de manière fluidique à l'entrée de la chambre d'échantillon et à l'entrée de gaz d'entraînement, la pompe à vide étant conçue pour créer une pression négative dans un flux de gaz de chambre d'échantillon en aval de l'entrée de chambre d'échantillon et en amont de la pompe à vide, la pompe à vide étant conçue pour mélanger le gaz d'entraînement et la combinaison de l'échantillon ayant subi une ablation au laser et du gaz porteur d'échantillon afin de produire un gaz de transport d'échantillon entraîné ; et un flux de sortie conçu pour émettre le gaz de transport d'échantillon entraîné de la pompe à vide vers un dispositif de détection pour l'analyse de l'échantillon ayant subi une ablation au laser.
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