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1. WO2020115160 - PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE POSITION AUTOMATIQUE SUR UN ENSEMBLE D’ÉCHANTILLONS ET MICROSCOPE CORRESPONDANT

Numéro de publication WO/2020/115160
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/EP2019/083725
Date du dépôt international 04.12.2019
CIB
G02B 21/26 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
24Structure du bâti ou statif
26Platines; Moyens de réglage pour celles-ci
G02B 21/34 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
34Lames de microscope, p.ex. montage d'échantillons sur des lames de microscope
CPC
G02B 21/26
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
26Stages; Adjusting means therefor
G02B 21/34
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
34Microscope slides, e.g. mounting specimens on microscope slides
Déposants
  • LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE]/[DE]
Inventeurs
  • HOFMANN, Tobias
  • STEY, Christof
  • SCHACHT, Volker
Mandataires
  • M PATENT GROUP
Données relatives à la priorité
10 2018 131 427.207.12.2018DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VERFAHREN ZUR AUTOMATISCHEN POSITIONSERMITTLUNG AUF EINER PROBENANORDNUNG UND ENTSPRECHENDES MIKROSKOP
(EN) METHOD FOR AUTOMATICALLY DETERMINING THE POSITION IN A SAMPLE ARRANGEMENT AND CORRESPONDING MICROSCOPE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE POSITION AUTOMATIQUE SUR UN ENSEMBLE D’ÉCHANTILLONS ET MICROSCOPE CORRESPONDANT
Abrégé
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur automatischen Ermittlung mehrerer Positionen (P1 - P8) auf einer Probenanordnung (40) im Objektraum eines Mikroskops (1), welches ein Mikroskopobjektiv (10), das eine optische Achse (8) definiert, umfasst, wobei ein Messstrahl (30) von einer Messstrahleinrichtung (19) erzeugt und auf die Probenanordnung (40) gerichtet wird und ein von der Probenanordnung (40) reflektierter Messstrahl (32, 32') von einem Detektor (28) erfasst wird, der ein Ausgangssignal erzeugt, wobei die Probenanordnung (40) in zumindest einer Richtung senkrecht zur optischen Achse (8) verschoben wird und wobei in Abhängigkeit von der Verschiebung die mehreren Positionen (P1 - P8) auf der Probenanordnung mittels während der Verschiebung in die zumindest eine Richtung erzeugten Ausgangssignalen des Detektors (28) ermittelt werden, sowie ein entsprechendes Mikroskop (1).
(EN)
The invention relates to a method for automatically determining a plurality of positions (P1-P8) in a sample arrangement (40) in the object space of a microscope (1) comprising a microscope objective (10) which defines an optical axis (8), wherein: a measurement beam (30) is generated by a measurement beam device (19) and directed at the sample arrangement (40), and a measurement beam (32, 32’) reflected by the sample arrangement (40) is detected by a detector (28) which produces an output signal; the sample arrangement (40) is displaced in at least one direction perpendicular to the optical axis (8); and the plurality of positions (P1-P8) in the sample arrangement is determined on the basis of the displacement by means of output signals of the detector (28) generated during the displacement in the at least one direction. The invention also relates to a corresponding microscope (1).
(FR)
L’invention concerne un procédé de détermination automatique d’une pluralité de positions (P1 - P8) sur un ensemble d’échantillons (40) dans l’espace objet d’un microscope (1) qui comprend un objectif (10) qui définit un axe optique (8). Un faisceau de mesure (30) est généré par un dispositif de faisceau de mesure (19) et est dirigé sur l’ensemble d’échantillon (40) et un faisceau de mesure (32, 32’) réfléchi par l’ensemble d’échantillon (40) est détecté par un détecteur (28) qui génère un signal de sortie. L’ensemble d’échantillons (40) est déplacé dans au moins une direction perpendiculaire à l’axe optique (8) et la pluralité de positions (P1 - P8) sur l’ensemble d’échantillons est déterminée en fonction du déplacement au moyen de signaux de sortie du détecteur (28) générés pendant le déplacement dans l’au moins une direction. L’invention concerne également un microscope correspondant (1).
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