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1. WO2020113894 - DISPOSITIF DE TEST ÉLECTRIQUE ET PROCÉDÉ DE LOCALISATION PRÉCISE D'UN DÉFAUT DE LIGNE CROISÉE D'UN DISPOSITIF DE TEST ÉLECTRIQUE

Numéro de publication WO/2020/113894
Date de publication 11.06.2020
N° de la demande internationale PCT/CN2019/084099
Date du dépôt international 24.04.2019
CIB
G09G 3/00 2006.01
GPHYSIQUE
09ENSEIGNEMENT; CRYPTOGRAPHIE; PRÉSENTATION; PUBLICITÉ; SCEAUX
GDISPOSITIONS OU CIRCUITS POUR LA COMMANDE DE L'AFFICHAGE UTILISANT DES MOYENS STATIQUES POUR PRÉSENTER UNE INFORMATION VARIABLE
3Dispositions ou circuits de commande présentant un intérêt uniquement pour l'affichage utilisant des moyens de visualisation autres que les tubes à rayons cathodiques
G02F 1/1362 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
FDISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
1Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source lumineuse indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
01pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
13basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
133Dispositions relatives à la structure; Excitation de cellules à cristaux liquides; Dispositions relatives aux circuits
136Cellules à cristaux liquides associées structurellement avec une couche ou un substrat semi-conducteurs, p.ex. cellules faisant partie d'un circuit intégré
1362Cellules à adressage par une matrice active
CPC
G02F 1/1362
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating, or modulating; Non-linear optics
01for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
13based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
1362Active matrix addressed cells
G02F 2001/136254
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating, or modulating; Non-linear optics
01for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
13based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
1362Active matrix addressed cells
136254Checking; Testing
G09G 3/006
GPHYSICS
09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
3Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Déposants
  • 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR DISPLAY TECHNOLOGY CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 刘强 LIU, Qiang
Mandataires
  • 深圳市德力知识产权代理事务所 COMIPS INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE
Données relatives à la priorité
201811475446.404.12.2018CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) ELECTRICAL TESTING DEVICE AND METHOD FOR ACCURATELY LOCATING CROSS LINE DEFECT OF ELECTRICAL TESTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TEST ÉLECTRIQUE ET PROCÉDÉ DE LOCALISATION PRÉCISE D'UN DÉFAUT DE LIGNE CROISÉE D'UN DISPOSITIF DE TEST ÉLECTRIQUE
(ZH) 电性测试设备及电性测试设备十字线缺陷精确定位方法
Abrégé
(EN)
An electrical testing device and a method for accurately locating a cross line defect of an electrical testing device. The method comprises: step 10, adding an infrared probe to an electrical testing device; step 20, using the electrical testing device to apply electrical power to an array substrate; and step 30, detecting, by means of the infrared probe, a location in the array substrate where heat has been generated due to a cross line defect, so as to locate the cross line defect at the array substrate. Further provided is an electrical testing device. The device and the method can accurately locate a cross line defect at an array substrate, thereby improving repair efficiency and product yields.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de test électrique et un procédé de localisation précise d'un défaut de ligne croisée d'un dispositif de test électrique. Le procédé comporte: à l'étape 10, l'ajout d'une sonde infrarouge à un dispositif de test électrique; à l'étape 20, l'utilisation du dispositif de test électrique pour appliquer une puissance électrique à un substrat de matrice; et à l'étape 30, la détection, au moyen de la sonde infrarouge, d'un emplacement dans le substrat de matrice où de la chaleur a été générée en raison d'un défaut de ligne croisée, de façon à localiser le défaut de ligne croisée dans le substrat de matrice. L'invention concerne en outre un dispositif de test électrique. Le dispositif et le procédé peuvent localiser précisément un défaut de ligne croisée dans un substrat de matrice, améliorant ainsi l'efficience des réparations et les rendements en produits.
(ZH)
一种电性测试设备及电性测试设备十字线缺陷精确定位方法,该方法包括:步骤10、在电性测试设备上加入红外探头;步骤20、利用电性测试设备向阵列基板加电;步骤30、通过红外探头侦测阵列基板内因十字线缺陷产生热量的位置,从而定位阵列基板上十字线缺陷的位置。还提供了一种电性测试设备。该设备和方法能够精确定位阵列基板上的十字线缺陷,进而提升修补效率和产品良率。
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