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1. WO2020112023 - PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE PRÉDICTION DE PERFORMANCE DANS UNE CONCEPTION ÉLECTRONIQUE SUR LA BASE D'UN APPRENTISSAGE AUTOMATIQUE

Numéro de publication WO/2020/112023
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/SG2019/050575
Date du dépôt international 25.11.2019
CIB
G06N 20/00 2019.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
NSYSTÈMES DE CALCULATEURS BASÉS SUR DES MODÈLES DE CALCUL SPÉCIFIQUES
20Apprentissage automatique
G06F 30/30 2020.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
30Conception assistée par ordinateur
30Conception de circuits
CPC
G06F 30/30
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
30Computer-aided design [CAD]
30Circuit design
G06N 20/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
NCOMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
20Machine learning
Déposants
  • AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH [SG]/[SG]
Inventeurs
  • SALAHUDDIN, Raju
  • DUTTA, Rahul
  • CHAI, Kevin Tshun Chuan
  • JAMES, Ashish
  • FOO, Chuan Sheng
  • ZENG, Zeng
  • RAMASAMY, Savitha
  • CHANDRASEKHAR, Vijay Ramaseshan
Mandataires
  • VIERING, JENTSCHURA & PARTNER LLP
Données relatives à la priorité
10201810573V26.11.2018SG
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND SYSTEM FOR PREDICTING PERFORMANCE IN ELECTRONIC DESIGN BASED ON MACHINE LEARNING
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE PRÉDICTION DE PERFORMANCE DANS UNE CONCEPTION ÉLECTRONIQUE SUR LA BASE D'UN APPRENTISSAGE AUTOMATIQUE
Abrégé
(EN)
There is provided a method of predicting performance in electronic design based on machine learning using at least one processor, the method including: providing a first machine learning model configured to predict performance data for an electronic system based on a set of input design parameters for the electronic system; providing a second machine learning model configured to generate a new set of parameter values for the set of input design parameters for the electronic system based on a desired performance data provided for the electronic system; generating, using the second machine learning model, the new set of parameter values for the set of input design parameters for the electronic system based on the desired performance data provided for the electronic system; evaluating the set of input design parameters having the new set of parameter values for the electronic system to obtain an evaluated performance data associated with the set of input design parameters having the new set of parameter values; generating a new set of training data based on the set of input design parameters having the new set of parameter values and the evaluated performance data associated with the set of input design parameters having the new set of parameter values; and training the first machine learning model based on at least the new set of training data. There is also provided a corresponding system for predicting performance in electronic design based on machine learning.
(FR)
La présente invention concerne un procédé de prédiction de performance dans une conception électronique sur la base d'un apprentissage automatique au moyen d'au moins un processeur, le procédé comprenant les étapes consistant : à fournir un premier modèle d'apprentissage automatique configuré pour prédire des données de performance pour un système électronique sur la base d'un ensemble de paramètres de conception d'entrée pour le système électronique ; à fournir un second modèle d'apprentissage automatique configuré pour générer un nouvel ensemble de valeurs de paramètre pour l'ensemble de paramètres de conception d'entrée pour le système électronique sur la base d'une donnée de performance souhaitée fournie pour le système électronique ; à générer, au moyen du second modèle d'apprentissage automatique, le nouvel ensemble de valeurs de paramètre pour l'ensemble de paramètres de conception d'entrée pour le système électronique sur la base des données de performance souhaitées fournies pour le système électronique ; à évaluer l'ensemble de paramètres de conception d'entrée présentant le nouvel ensemble de valeurs de paramètre pour le système électronique pour obtenir une donnée de performance évaluée associée à l'ensemble de paramètres de conception d'entrée présentant le nouvel ensemble de valeurs de paramètre ; à générer un nouvel ensemble de données d'entraînement sur la base de l'ensemble de paramètres de conception d'entrée présentant le nouvel ensemble de valeurs de paramètre et la donnée de performance évaluée associée à l'ensemble de paramètres de conception d'entrée présentant le nouvel ensemble de valeurs de paramètre ; et à entraîner le premier modèle d'apprentissage automatique sur la base d'au moins le nouvel ensemble de données d'entraînement. La présente invention concerne également un système correspondant pour la prédiction de performance dans une conception électronique sur la base d'un apprentissage machine.
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