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1. WO2020110129 - ANALYSE CENTRALISÉE D'APPAREILS D'INSPECTION VISUELLE MULTIPLES

Numéro de publication WO/2020/110129
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/IL2019/051320
Date du dépôt international 01.12.2019
CIB
G05B 19/00 2006.01
GPHYSIQUE
05COMMANDE; RÉGULATION
BSYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU DE TEST DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
19Systèmes de commande à programme
G05B 1/00 2006.01
GPHYSIQUE
05COMMANDE; RÉGULATION
BSYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU DE TEST DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
1Eléments de comparaison, c. à d. éléments pour effectuer la comparaison directement ou indirectement entre une valeur désirée et des valeurs existantes ou prévues
CPC
G05B 1/00
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
1Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values
G05B 19/00
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
19Programme-control systems
Déposants
  • INSPEKTO A.M.V LTD [IL]/[IL]
Inventeurs
  • HYATT, Yonatan
  • BOREN, Harel
Mandataires
  • BENTOV, Rachel
Données relatives à la priorité
26339929.11.2018IL
62/772,75829.11.2018US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) CENTRALIZED ANALYTICS OF MULTIPLE VISUAL INSPECTION APPLIANCES
(FR) ANALYSE CENTRALISÉE D'APPAREILS D'INSPECTION VISUELLE MULTIPLES
Abrégé
(EN)
A visual inspection data collection and analysis system comprising: a plurality of visual inspection appliances (VTA) configured to inspect and acquire visual inspection data relating to inspected items; and a data collection and analytics server (DCAS) configured to receive information comprising the visual inspection data from the multiple VIAs and to analyze the received information to form a big data analysis. The VIAs are adapted for detecting defects or gating or counting the inspected items without the involvement of the DCAS.
(FR)
L'invention concerne un système de collecte et d'analyse de données d'inspection visuelle, comprenant : une pluralité d'appareils d'inspection visuelle (VIA) configurés pour effectuer une inspection et acquérir des données d'inspection visuelle relatives à des articles inspectés ; et un serveur de collecte et d'analyse de données (DCAS) configuré pour recevoir des informations comprenant les données d'inspection visuelle provenant des appareils d'inspection visuelle multiples, et pour analyser les informations reçues afin de réaliser une analyse de mégadonnées. Les VIA sont conçus pour détecter des défauts ou déclencher ou compter les articles inspectés, sans la participation du DCAS.
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